[发明专利]一种钻测测斜数据QC校核方法在审
| 申请号: | 201810565248.0 | 申请日: | 2018-06-04 |
| 公开(公告)号: | CN108798644A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
| 发明(设计)人: | 冯建宇;王箭羽 | 申请(专利权)人: | 北京六合伟业科技股份有限公司 |
| 主分类号: | E21B47/0228 | 分类号: | E21B47/0228;E21B47/00;G06Q50/02 |
| 代理公司: | 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 | 代理人: | 王新爱 |
| 地址: | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 无磁钻铤 最优位置 测斜 校核 钻具 测斜数据 磁场 磁化 计算传感器 测量过程 磁极距离 基础数据 精度要求 井眼轴线 控制算法 实时校核 校核技术 组合关系 施工井 六轴 配置 无磁 判定 分析 | ||
本发明公开了一种钻测测斜数据QC校核方法,包括以下步骤:A、按施工井段的基础数据和对测斜方位的精度要求,计算并配置无磁钻铤和安装测斜仪的最优位置;B、调整无磁钻铤的长度,并对磁化钻具产生的磁场进行分析;C、根据磁场强度和考虑位置与磁极距离的关系,计算无磁钻铤下部钻具长度和无磁钻铤本体长度的不同组合关系;D、测量过程中实时校核六轴数据,对所有数据进行校核判定;E、SAG角计算,计算传感器安装位置处钻具的弯曲程度及其与井眼轴线的夹角,本发明采用无磁长度最优位置控制算法,SAG角计算和QC校核技术,能够精确地计算出配置无磁钻铤和安装测斜仪的最优位置。
技术领域
本发明涉及QC校核技术领域,具体为一种钻测测斜数据QC校核方法。
背景技术
旋磁导向系统可以直接测量钻头到目标井的距离和方位,且随着井深的增加不会产生累计误差系统。
可用于各种定向钻井工程,包括:连通井、定向井防碰技术、为平行井段分离提供控制技术、双水平井。RMRS旋磁导向系统传输系统突出两个优点:测量参数中增加姿态、温度参数和基于单芯铠装电缆通信技术。
目前主要采用钻孔测斜仪对钻孔进行测斜,现有的钻孔测斜仪一般由地面控制仪器和井下探管组成,它们之间通过电缆连接进行通信。具体在进行测量时,通常是在钻孔成孔后,将带电缆的探管送入钻孔内进行测量,测量完成后取回探管继续钻孔。
随钻测量中用到的探管,普遍利用磁通门磁力计来测量地磁场,同时配合重力加速度计的测量值来计算出钻井各个参数。
在实际工程中,由于各种因素会导致磁通门磁力计和重力加速度计的测量数据(简称六轴数据)不准确,同时由于钻具在井底受力发生弯曲导致SAG角产生,因此需要一套测斜数据校核系统来对每次测量的情况进行校核和修正。
发明内容
本发明的目的在于提供一种采用无磁长度最优位置控制算法,SAG角计算和QC校核技术,能够精确地计算出配置无磁钻铤和安装测斜仪的最优位置的一种钻测测斜数据QC校核方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种钻测测斜数据QC校核方法,其特征在于:包括以下步骤:
A、按施工井段的基础数据和对测斜方位的精度要求,计算并配置无磁钻铤和安装测斜仪的最优位置;
B、调整无磁钻铤的长度,并对磁化钻具产生的磁场进行分析;
C、根据磁场强度和考虑位置与磁极距离的关系,计算无磁钻铤下部钻具长度和无磁钻铤本体长度的不同组合关系;
D、测量过程中实时校核六轴数据,对所有数据进行校核判定;
E、SAG角计算,计算传感器安装位置处钻具的弯曲程度及其与井眼轴线的夹角。
优选的,所述根据步骤A将磁性测斜仪放置在无磁钻铤中,以保持一个相对较弱的磁干扰环境,调整无磁钻铤的长度,钻具采用钢性材质。
优选的,根据步骤B钻具是非常长的圆柱形,磁场方向认为是沿着钻具轴向,钻头、无磁钻铤前部和后部的钢性钻具视同三个磁极,无磁钻铤下部的钻具具备两个磁极,分别在钻头位置和无磁钻铤底部,无磁钻铤上部的钻具也具备两个磁极,一个磁极位于无磁钻铤上部钻具的顶部,另一个磁极挨无磁钻铤顶部。
优选的,所述根据步骤C根据磁场强度和考虑位置与磁极距离的关系,调整无磁钻铤本体的长度。
优选的,所述根据步骤D测量出测斜仪的六轴数据,通过六轴数据计算出井斜角和方位角。
优选的,所述根据步骤E采用三维有限元力学分析算法进行SAG角计算,计算传感器安装位置处钻具的弯曲程度及其与井眼轴线的夹角。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京六合伟业科技股份有限公司,未经北京六合伟业科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810565248.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电成像测量探头
- 下一篇:一种钻杆内下式测斜装置以及钻杆内下式测斜系统





