[发明专利]物品检测方法和装置

权利要求书

1.一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元、处理单元、确定单元；

所述收发单元向待检测物品发送发射信号，并且接收所述待检测物品反射后的反射信号；其中，待检测物品相对预定轴摆动，所述待检测物品在所述轴的两侧产生沿径向方向相反的运动速度；

处理单元，其用于对所述发射信号和所述反射信号进行处理，以获得特征信号；其中，所述特征信号包含与预定距离对应的第一预定数量组速度值对应的信号强度值；每组速度值包括第二预定数量个速度值，所述速度值等于所述收发单元的径向速度分辨率的整倍数，所述预定距离根据所述待检测物品和所述收发单元的距离确定；

确定单元，其用于根据从所述特征信号中提取的特征确定所述待检测物品中所包含的物品，

其中，所述处理单元包括：

预处理模块，其用于将所述发射信号和反射信号进行混频采样，以得到第一预定数量个基带信号矩阵，其中，所述发射信号是周期信号；其中，一个基带信号矩阵的行数等于所述第二预定数量，每一行表示一个周期的采样点的基带信号值；所述基带信号矩阵的列数等于第三预定数量，所述第三预定数量为基带信号在一个周期内的采样点的数量；

变换模块，其用于对每个基带信号矩阵逐行进行傅里叶变换后，得到包含与所述第三预定数量个距离分别对应的所述第二预定数量个信号强度值的第一信号矩阵；再对每个第一信号矩阵逐列进行傅里叶变换，得到包含与所述第三预定数量个距离分别对应的所述第二预定数量个速度值对应的信号强度值的第二信号矩阵；

选择模块，其用于针对每个第二信号矩阵，从所述第三预定数量个距离中选择与所述预定距离对应的一组速度值对应的信号强度值，以获得所述特征信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述选择模块将从第一预定数量个第二信号矩阵中选择的与所述预定距离对应的所述第二预定数量个速度值对应的信号强度值合并构成特征矩阵，作为所述特征信号，所述特征矩阵的列数等于所述第一预定数量，所述特征矩阵的行数等于所述第二预定数量，所述特征矩阵的每一列对应从一个第二信号矩阵中选择的所述第二预定数量个速度值对应的信号强度值。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述确定单元包括：

转换模块，其用于将所述特征信号转换为微多普勒图；

提取模块，其用于从所述微多普勒图中提取所述特征；

确定模块，其用于根据所述特征确定所述待检测物品中所包含的物品。

4.根据权利要求3所述的装置，其中，所述确定模块将所述特征与预先获得的训练集中的特征进行比较，以确定所述待检测物品中所包含的物品。

5.根据权利要求3所述的装置，其中，所述提取模块提取所述微多普勒图中速度值不为0，且信号强度值大于第三阈值的采样点，将所述采样点的信号强度值或者信号强度值乘以速度值作为所述特征。

6.根据权利要求3所述的装置，其中，确定模块还包括：

降噪模块，其用于对所述微多普勒图进行降噪处理；并且所述提取模块从经过降噪模块处理后的所述微多普勒图中提取特征；

归一化模块，其用于对提取的所述特征进行归一化处理；并且所述确定模块根据归一化处理后的所述特征确定所述待检测物品中所包含的物品。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述降噪模块去除所述微多普勒图中信号强度值高于第一阈值和/或低于第二阈值的采样点。

8.一种物品检测方法，其中，所述方法包括：

收发单元向待检测物品发送发射信号，并且接收所述待检测物品反射后的反射信号；其中，所述待检测物品相对预定轴摆动，所述待检测物品在所述轴的两侧产生沿径向方向相反的运动速度；

对所述发射信号和所述反射信号进行处理，以获得特征信号；其中，所述特征信号包含与预定距离对应的第一预定数量组速度值对应的信号强度值；每组速度值包括第二预定数量个速度值，所述速度值等于所述收发单元的径向速度分辨率的整倍数，所述预定距离根据所述待检测物品和所述收发单元的距离确定；

根据从所述特征信号中提取的特征确定所述待检测物品中所包含的物品；

其中，对所述发射信号和所述反射信号进行处理，以获得特征信号包括：

将所述发射信号和反射信号进行混频采样，以得到第一预定数量个基带信号矩阵，其中，所述发射信号是周期信号；其中，一个基带信号矩阵的行数等于所述第二预定数量，每一行表示一个周期的采样点的基带信号值；所述基带信号矩阵的列数等于第三预定数量，所述第三预定数量为基带信号在一个周期内的采样点的数量；

对每个基带信号矩阵逐行进行傅里叶变换后，得到包含与所述第三预定数量个距离分别对应的所述第二预定数量个信号强度值的第一信号矩阵；再对每个第一信号矩阵逐列进行傅里叶变换，得到包含与所述第三预定数量个距离分别对应的所述第二预定数量个速度值对应的信号强度值的第二信号矩阵；

针对每个第二信号矩阵，从所述第三预定数量个距离中选择与所述预定距离对应的一组速度值对应的信号强度值，以获得所述特征信号。