[发明专利]基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法有效
| 申请号: | 201810562033.3 | 申请日: | 2018-06-04 |
| 公开(公告)号: | CN108959709B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
| 发明(设计)人: | 李祥艳;郝丛宇;许依春;张艳革;尤玉伟;孔祥山;刘伟;吴学邦;刘长松;方前锋;王先平;张涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
| 代理公司: | 合肥中谷知识产权代理事务所(普通合伙) 34146 | 代理人: | 洪玲 |
| 地址: | 23000*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 缺陷 性质 尺度 模拟 结构 搜索 方法 | ||
1.一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:根据重位点阵理论建立初始晶界模型,并弛豫之;计算晶界附近格点缺陷形成能,并以最小缺陷形成能所处的位置确定缺陷最稳定占据位置;
步骤S2:确定最小晶界结构的结构单元尺寸、原子坐标、缺陷占据坐标;
步骤S3:设定平行晶界方向最小结构单元复制数;
步骤S4:复制缺陷占据坐标,复制最小结构单元坐标,生成缺陷随机占据序列;
步骤S5:对于其中某个占据序列,修改结构单元中原子坐标;
步骤S6:设置平行晶界方向晶粒相对滑移步长、步数;
步骤S7:对于某个滑移量,相对滑移晶粒;
步骤S8:弛豫滑移后的晶界模型;
步骤S9:计算晶界能密度,先判断是否已经达到最大滑移量,若未达到最大滑移量,则回到步骤S7重新设定滑移量,位移晶粒,若已经达到最大滑移量,则判断是否已遍历所有缺陷序列,若未遍历所有缺陷序列,则回到步骤S5重新设定占据序列,修改结构单元中原子坐标,若已遍历所有缺陷序列,则输出缺陷序列对应的缺陷比例、最小晶界能密度和晶界结构;
步骤S10:判断是否已遍历结构单元复制数,是则结束,得到最小晶界能和对应的结构,否则回到步骤S3,重新设定平行晶界方向最小结构单元复制数。
2.根据权利要求1所述的一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法,其特征在于,在步骤S5后还包括:利用格点动力学蒙特卡洛方法弛豫构型。
3.根据权利要求2所述的一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法,其特征在于,在利用格点动力学蒙特卡洛方法弛豫构型前,须事先构建缺陷在界面附近跃迁速率表格。
4.根据权利要求3所述的一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法,其特征在于,所述格点动力学蒙特卡洛方法弛豫构型的方法,包括:
步骤S501:对于给定的界面,建立格点动力学蒙特卡洛LKMC格点与缺陷态之间的映射;
步骤S502:建立不同缺陷态之间跃迁速率表格,计算与其处于介于第一近邻和第二近邻之间的所有原子格点,采用NEB方法计算空位、间隙原子在LKMC晶格上所有态之间转变的能垒,进而转变成相应的速率。
5.根据权利要求1-4任一项所述的一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法,其特征在于,所述步骤S2中,缺陷形成能Ef的计算方法为:
其中,
6.根据权利要求1-4任一项所述的一种基于缺陷性质和多尺度模拟的晶界结构搜索方法,其特征在于,所述步骤S9中,晶界能密度计算方法为:
其中
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