[发明专利]交叉轨迹分析方法及装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种交叉轨迹分析方法，其特征在于，所述方法包括：

在待分析图像中确定目标对象的目标图像，所述待分析图像包括时间信息和地点信息，包括：在针对目标对象的任一参考图像中确定目标对象；根据各参考图像中的目标对象，在待分析图像中确定各参考图像中目标对象的目标图像，其中，所述各参考图像中的目标对象包括目标对象不同的特征，所述参考图像包括包含目标对象的照片或画像；

根据所述待分析图像的时间信息和地点信息，确定所述目标图像的时间信息和地点信息；

根据所述目标图像的时间信息和地点信息得到所述目标对象的轨迹，包括：根据各参考图像中目标对象的目标图像的时间信息和地点信息，确定各参考图像中目标对象对应的待合并轨迹；将各参考图像中目标对象对应的待合并轨迹合并，得到所述目标对象的轨迹；

根据多个所述目标对象的轨迹得到多个所述目标对象的交叉轨迹。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在待分析图像中确定目标对象的目标图像，包括：

在所述待分析图像中检测目标对象；

当在所述待分析图像中检测到所述目标对象时，根据所述待分析图像确定所述目标对象的目标图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在待分析图像中确定目标对象的目标图像，包括：

在原始图像中检测候选目标对象；

在所述原始图像中截取包括各所述候选目标对象的图像，生成待分析图像；

在所述待分析图像中确定目标对象的目标图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述待分析图像中确定目标对象的目标图像，包括：

根据所述目标对象和所述候选目标对象之间的相似度，在所述待分析图像中确定目标对象的目标图像。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将各参考图像中目标对象对应的待合并轨迹合并，得到所述目标对象的轨迹，包括：

将各参考图像中目标对象对应的待合并轨迹合并，得到合并轨迹；

去除所述合并轨迹中的异常时间信息和/或异常地点信息，得到所述目标对象的轨迹。

6.一种交叉轨迹分析装置，其特征在于，所述装置包括：

目标图像确定模块，用在待分析图像中确定目标对象的目标图像，所述待分析图像包括时间信息和地点信息，包括：目标对象确定子模块，用于在针对目标对象的任一参考图像中确定目标对象；第三目标图像确定子模块，用于根据各参考图像中的目标对象，在待分析图像中确定各参考图像中目标对象的目标图像，其中，所述各参考图像中的目标对象包括目标对象不同的特征，所述参考图像包括包含目标对象的照片或画像；

信息确定模块，用于确定所述目标图像的时间信息和地点信息；

目标轨迹确定模块，用于根据所述目标图像的时间信息和地点信息得到所述目标对象的轨迹，包括：待合并轨迹确定子模块，用于根据各参考图像中目标对象的目标图像的时间信息和地点信息，确定各参考图像中目标对象对应的待合并轨迹；第一目标轨迹确定子模块，用于将各参考图像中目标对象对应的待合并轨迹合并，得到所述目标对象的轨迹；

交叉轨迹确定模块，用于根据多个所述目标对象的轨迹得到多个所述目标对象的交叉轨迹。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述目标图像确定模块，包括：

检测子模块，用于在所述待分析图像中检测目标对象；

第一目标图像确定子模块，用于当在所述待分析图像中检测到所述目标对象时，根据所述待分析图像确定所述目标对象的目标图像。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述目标图像确定模块，包括：

候选目标对象检测子模块，用于在原始图像中检测候选目标对象；

待分析图像生成子模块，用于在所述原始图像中截取包括各所述候选目标对象的图像，生成待分析图像；

第二目标图像确定子模块，用于在所述待分析图像中确定目标对象的目标图像。