[发明专利]一种石墨烯选取刻蚀的方法及装置在审
| 申请号: | 201810557452.8 | 申请日: | 2018-06-01 |
| 公开(公告)号: | CN110548996A | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
| 发明(设计)人: | 关彦涛;解婧;屈芙蓉;李楠;赵丽莉;夏洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | B23K26/362 | 分类号: | B23K26/362;B23K26/064;B23K26/70;B23K101/40 |
| 代理公司: | 11302 北京华沛德权律师事务所 | 代理人: | 房德权 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 石墨烯 刻蚀 激光聚焦光斑 石墨烯薄层 样品表面 预设区域 衬底 激光 扫描 半导体技术领域 表面形成图案 石墨烯薄膜 衬底材料 技术效果 扫描路径 传统的 图案化 波长 伤害 光刻 镜组 涂胶 聚焦 加工 | ||
1.一种石墨烯选取刻蚀的方法,其特征在于,所述方法包括:
设定所述激光的波长、功率和扫描路径;
所述激光通过镜组阵列聚焦,形成激光聚焦光斑;
用所述激光聚焦光斑扫描衬底样品表面预设区域,完全刻蚀掉所述衬底样品表面预设区域的石墨烯薄层,在所述石墨烯薄层表面形成图案。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光的波长为极紫外150nm至近红外1500nm。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光为脉冲激光,其中,所述激光的脉冲宽度为10-8-10-15s。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述激光聚焦光斑直径为5μm-6mm。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述石墨烯薄层的原子层数为1-10层。
6.一种激光选区刻蚀石墨烯的装置,其特征在于,所述装置包括:
激光光源,所述激光光源发射出单脉冲激光;
计算机数据采集、处理与控制系统,所述计算机数据采集、处理与控制系统与激光光源连接,用以设置所述激光光源的波长、功率和扫描路径参数;
镜组阵列,所述镜组阵列接收到所述激光光源发射的单脉冲激光,对所述单脉冲激光进行聚焦;
光学窗口法兰组件,所述光学窗口法兰组件接收聚焦后的所述单脉冲激光,扫描衬底样品表面预设区域的石墨烯薄层;
激光扫描腔体,所述激光扫描腔体内设置有放置衬底样品的载片平台;
其中,所述光学窗口法兰组件设置在所述激光扫描腔体上。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
进样通道,所述进样通道设置在所述激光扫描腔体内。
8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述光学窗口法兰组件为100nm-1500nm特定波长范围内的法兰组件。
9.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
动力装置,所述动力装置设置在所述激光扫描腔体上。
10.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
真空规组件,所述真空规组件设置在所述激光扫描腔体上,按照预设真空条件对所述激光扫描腔体抽真空。
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