[发明专利]电磁干扰检测方法、系统及电磁干扰检测仪在审
| 申请号: | 201810555812.0 | 申请日: | 2018-06-01 |
| 公开(公告)号: | CN108872922A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
| 发明(设计)人: | 高建;余海林 | 申请(专利权)人: | 杭州海兴电力科技股份有限公司;宁波恒力达科技有限公司;南京海兴电网技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R35/04 | 分类号: | G01R35/04;G01R29/08 |
| 代理公司: | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人: | 姚宇吉 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电磁干扰检测 光脉冲信号 磁场环境 电磁干扰 强电磁场环境 数据统计分析 可见光 便于携带 光电转换 光纤通讯 检测结果 检测设备 脉冲间隔 脉冲信号 实时采集 电磁场 统计分析 被测端 光脉冲 可信度 重量轻 波长 可用 突变 光纤 采集 传输 检测 统计 | ||
本发明公开了一种电磁干扰检测方法、系统及电磁干扰检测仪,所述方法包括如下步骤:远程实时采集处于强电磁场环境中的被测端的光脉冲信号;通过光纤将采集到的光脉冲信号传输至非磁场环境中进行光电转换得到对应的电信号;在非磁场环境中根据所述电信号的脉冲间隔及突变情况,判断所述光脉冲信号是否受到电磁干扰,进而判断所述被测端是否受到电磁干扰。本发明通过利用光纤通讯,使得检测设备免于电磁场的干扰,提高检测结果的可信度;同时本发明可自动对光脉冲信号进行统计分析,免去了以往人工统计的麻烦,提高了数据统计分析效率;且本发明体积相对小、重量轻、便于携带,对不同波长可见光的光脉冲均能适用,可用于多种检测场合。
技术领域
本发明涉及电磁抗干扰检测技术,具体的说,是涉及一种电磁干扰检测方法、系统及电磁干扰检测仪。
背景技术
目前,在电表认证及机构测试电表精确度抗扰实验时,由于电表本身处于干扰源中,使得检测设备不得不与电表设备同处于干扰源中,但检测设备本身往往不具有抗磁场干扰的功能,因而强磁场环境会影响检测设备的检测灵敏度,进而会导致检测设备的检测结果存在误差;并且,绝大部分干扰源为强磁场,这也给检测人员带来身体损伤。
此外,测试或者分析人员必须站在测试环境中,对实验中的电表产生的光脉冲进行肉眼识别,分析问题,对于脉冲常数比较大的特殊需求,测试人员无法肉眼识别脉冲的准确性,只能进行脉冲计数,对比有干扰实验的脉冲数和无干扰实验的脉冲总数,判断电表在干扰环境下的计量准确性,现有的光脉冲计数器只能进行脉冲个数的统计;不能实时对电表产生的光脉冲进行分析,而且不能保存历史数据,实验数据不可追溯。
综上,现有的测试设备一般成本较高、携带不便,且不能对光脉冲进行分析及保存,实验数据不能追溯,目前业内尚不具有结构简单、便携、性能安全可靠且能够进行数据统计的抗电磁干扰的电表光脉冲检测设备。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种电磁干扰检测方法、系统及电磁干扰检测仪,通过利用光纤通讯,使得检测设备免于电磁场的干扰,提高检测结果的可信度;同时本发明可自动对光脉冲信号进行统计分析,免去了以往人工统计的麻烦,提高了数据统计分析效率;且本发明体积相对小、重量轻、便于携带,对不同波长可见光的光脉冲均能适用,可用于多种检测场合。
为了实现上述目的,本发明的一个方面提供了一种电磁干扰检测方法,包括如下步骤:
远程实时采集处于磁场环境中的被测端的光脉冲信号;
通过光纤将采集到的光脉冲信号传输至非磁场环境中进行光电转换得到对应的电信号;
在强电磁场干扰环境中,根据所述电信号的脉冲间隔及突变情况,判断所述光脉冲信号是否受到电磁干扰,进而判断所述被测端是否受到电磁干扰。
作为一种优选的技术方案,所述远程实时采集被测端的光脉冲信号具体为:通过光纤与所述处于磁场环境中的被测端连接,对所述被测端的光脉冲信号进行实时采集。
作为一种优选的技术方案,根据所述电信号的脉冲间隔及突变情况,判断所述光脉冲信号是否受到电磁干扰具体为:实时检测所述光脉冲信号发生的时间间隔及脉冲峰值,若相邻光脉冲信号间的时间间隔或光脉冲峰值发生突变,则可判定所述光脉冲信号受到电磁干扰。由于被测端一般采用标准恒定负载,而在标准恒定负载下所采集到的光脉冲间隔应当几乎相同,在实时检测所述光脉冲信号发生的时间间隔及脉冲峰值时,若相邻光脉冲信号间的时间间隔发生突变(即时间间隔减小或增大)或光脉冲信号的峰值发生突变(相较于常规水平激增或激降),则可判断被测端(的计量系统)受到了电磁场的干扰,导致光脉冲信号发生突变。
作为一种优选的技术方案,所述电磁干扰检测方法还包括:在判断所述光脉冲信号是否受到电磁干扰后,将所述判断结果进行保存,并结合历史保存数据,对光脉冲信号的受干扰数据进行统计分析。
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