[发明专利]一种电容式触控方法及装置

权利要求书

1.一种电容式触控方法，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

所述方法包括：

获取目标悬浮触控高度；

确定与所述目标悬浮触控高度匹配的感应单元的目标尺寸参数；

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元；

所述确定与所述目标悬浮触控高度匹配的感应单元的目标尺寸参数包括：

获取预设悬浮触控高度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，其中，所述预设悬浮触控高度与所述尺寸参数正相关；根据所述第一对应关系确定与所述目标悬浮触控高度匹配的感应单元的目标尺寸参数；或者

获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系；根据所述第二对应关系确定与所述目标悬浮触控高度匹配且位置解析度最高的感应单元的目标尺寸参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取预设悬浮触控高度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，包括：

接收参数设置命令；

根据所述参数设置命令，设置所述预设悬浮触控高度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系，包括：

获取多个预设悬浮触控高度和多个感应单元的尺寸参数；

分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度，得到所述第二对应关系。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个目标感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定各个所述预设悬浮触控高度及尺寸参数下对应的所述触控面板的位置解析度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标尺寸参数包括以下至少一项：

目标感应单元中包含的电极板的目标个数、目标感应单元的目标面积、目标感应单元的目标长宽比，以及目标感应单元的目标形状。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标悬浮触控高度包括：

接收用户输入的目标悬浮触控高度；或者

获取用户在当前目标尺寸参数下执行悬浮触控时，各个感应单元的自感电容值；

根据预设悬浮触控高度与自感电容值之间的关系，确定所述目标悬浮触控高度。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在感应到触控操作时，获取所述单层电极层中每个目标感应单元的自感电容值；

根据各个目标感应单元的自感电容值确定所述触控操作的触控位置。

8.一种电容式触控装置，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取目标悬浮触控高度；

确定与所述目标悬浮触控高度匹配的感应单元的目标尺寸参数；

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元；

所述确定与所述目标悬浮触控高度匹配的感应单元的目标尺寸参数包括：

获取预设悬浮触控高度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，其中，所述预设悬浮触控高度与所述尺寸参数正相关；根据所述第一对应关系确定与所述目标悬浮触控高度匹配的感应单元的目标尺寸参数；或者

获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系；根据所述第二对应关系确定与所述目标悬浮触控高度匹配且位置解析度最高的感应单元的目标尺寸参数。