[发明专利]离子束照射装置有效

专利信息
申请号: 201810532390.5 申请日: 2018-05-29
公开(公告)号: CN109427526B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 土肥正二郎;小野田正敏;高桥元喜 申请(专利权)人: 日新离子机器株式会社
主分类号: H01J37/317 分类号: H01J37/317;H01J37/16;H01J37/244
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 周善来;李雪春
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 离子束 照射 装置
【权利要求书】:

1.一种离子束照射装置,其特征在于,所述离子束照射装置具有固定在离子束照射位置的束电流测量器,

所述束电流测量器包括:

测量部;以及

防护罩,配置在所述测量部的周围,

所述防护罩包括:

前面防护罩,具有使离子束的一部分通向所述测量部的开口;

后面防护罩,配置在与所述前面防护罩相对的位置;以及

侧面防护罩,配置在所述前面防护罩和所述后面防护罩以外的部位,

在离子束照射装置的真空室壁面上具有能够开闭的门,

所述门兼用作所述后面防护罩。

2.根据权利要求1所述的离子束照射装置,其特征在于,

所述束电流测量器为大致长方体形状,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的长边方向设有永磁体。

3.根据权利要求2所述的离子束照射装置,其特征在于,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的短边方向设有永磁体。

4.根据权利要求1所述的离子束照射装置,其特征在于,

所述束电流测量器为大致长方体形状,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的长边方向设有施加负或正的电压的电极。

5.根据权利要求2所述的离子束照射装置,其特征在于,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的长边方向设有施加负或正的电压的电极。

6.根据权利要求3所述的离子束照射装置,其特征在于,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的长边方向设有施加负或正的电压的电极。

7.根据权利要求4所述的离子束照射装置,其特征在于,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的短边方向设有施加负或正的电压的电极。

8.根据权利要求5所述的离子束照射装置,其特征在于,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的短边方向设有施加负或正的电压的电极。

9.根据权利要求6所述的离子束照射装置,其特征在于,

在所述后面防护罩或所述侧面防护罩上,沿着所述束电流测量器的短边方向设有施加负或正的电压的电极。

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