[发明专利]一种ICT测试仪

说明书

本发明公开一种ICT测试仪，包括天板，受驱动地朝向电路板的元件面移动；电气元件引脚测试机构，设置在天板上，用于测试引脚位于元件面上的电气元件是否可以正常使用；电解电容插反测试机构，设置在天板上，用于测试元件面上的电解电容是否插反；针座插反测试机构，设置在天板上，用于测试元件面上待测试的针座是否插反。通过将电气元件引脚测试机构、电解电容插反测试机构和针座插反测试机构同时设置在天板上，解决的技术问题在于现有技术中的ICT测试仪的天板测试功能性单一，缺乏对位于电路板元件面上电气元件的全面检查，无法同时检查位于电路板元件面上不同电气元件是否插反的问题。

技术领域

本发明涉及测试治具技术领域，具体涉及一种用于检测电路板的ICT测试仪。

背景技术

随着电子技术的不断发展，电子产品正不断丰富着我们的生活，而电路板作为其中最重要的部分，其好坏关系着产品本身的性能及质量。为了保证电路板质量就需要ICT测试仪对电路板进行测试，ICT是一种高精度的电子元器件性能检测设备，其原理就相当于一个大型的万用表，利用探针与元件的测试点导通来采集电参数，然后通过软件的处理，来实现故障测试可控。现有的ICT测试仪主要通过设置在针板上的探针对电路板的引脚面进行检测，缺乏针对于电路板的元件面的检测，ICT测试仪的测试功能单一。

为了有效的对电路板的元件面进行检测，现有技术中如中国专利文献CN203965580U,如图7所示，公开了一种用于检测电路板插接件的ICT测试治具，包括天板101、载板102及针板103，还包括，上探针104，设于所述天板101下表面，与放置在所述载板102上的电路板的插接件引脚相对应；下探针105，设于所述针板103下表面，与设于所述载板102上的通孔相对应；当所述天板101下压时，所述下探针105穿过所述载板102上的通孔与电路板焊点接触，所述上探针104与电路板上的插接件引脚接触，从而触发信号。

上述ICT测试治具在天板上设置上探针可以对位于电路板元件面上的引脚进行测试，但是其天板测试功能性单一，天板无法同时检测位于PCB板元件面上的电解电容以及针座是否出现漏插或插反的问题，缺乏对位于电路板元件面上电气元件的全面检查。

发明内容

因此，本发明所要解决的技术问题在于现有技术中的ICT测试仪的天板测试功能性单一，缺乏对位于电路板元件面上电气元件的全面检查，无法同时检查位于电路板元件面上不同电气元件是否插反的问题。为此，本发明提供一种ICT测试仪，包括

天板，受驱动地朝向所述电路板的元件面移动；

电气元件引脚测试机构，设置在所述天板上，用于测试引脚位于所述元件面上的电气元件是否可以正常使用；

电解电容插反测试机构，设置在所述天板上，用于测试所述元件面上的电解电容是否插反；

针座插反测试机构，设置在所述天板上，用于测试所述元件面上待测试的针座是否插反。

所述电解电容插反测试机构包括受所述天板驱动与位于所述电路板元件面上的电解电容外壳电连接的第一探针以及分别与所述第一探针、所述电解电容的正极端和所述电解电容的负极端电连接的第一测试电路，所述第一测试电路测量所述第一探针和所述电解电容的正极之间的电阻值以及所述第一探针和所述电解电容的负极之间的电阻值。

所述电解电容插反测试机构还包括信号处理模块，所述信号处理模块接收所述第一测试电路测得的电阻值与预设电阻值进行比较，判断所述电解电容是否插反。

所述第一测试电路包括：电阻表，分别测量所述第一探针和所述电解电容的正极之间的电阻值以及所述第一探针和所述电解电容的负极之间的电阻值。

所述天板上还设有用于固定所述电路板的定位件，所述定位件朝向所述电路板元件面的一端具有面积大于所述定位件横截面积的压头。