[发明专利]一种PCBA-BGA chip应变力量测方法在审
申请号: | 201810521424.0 | 申请日: | 2018-05-28 |
公开(公告)号: | CN108760124A | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 吴鑫 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00;G01M7/08 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人: | 李潇潇 |
地址: | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 跌落 焊接工艺 应变力 测试 跌落测试仪 动态应变仪 数据采集器 三轴应力 挖掘机构 锡球断裂 系统组装 应力测试 断裂的 应变片 板卡 称重 封箱 可用 打包 服务器 采集 力量 预防 分析 | ||
一种PCBA‑BGAchip应变力量测方法,包括以下步骤:1)、应变片安装;2)、板卡安装及系统组装;3)、封箱、打包与称重;4)、跌落测试;5)测试结果采集、对比、分析。利用动态应变仪、三轴应力片、G值数据采集器与跌落测试仪,准确量出服务器经过跌落测试后各PCBA‑BAG chip遭受应变力。同时可用此方法来挖掘机构设计、焊接工艺不良等造成BGA锡球断裂的风险。执行BGA应力测试,提早改善与预防BGA角落锡球断裂的风险。
技术领域
本发明涉及电路板测试技术领域,特别涉及一种PCBA-BGA chip应变力量测方法。
背景技术
随着服务器行业的快速发展及高密度的要求,板卡上的BGA焊球阵列封装等元器件封装的体积也越来越小,同时业界纷纷响应对绿色环保对无铅制程的需求,BGA等器件与PCB的连接也因制造过程中的过板弯所导致锡裂发生的几率的增加。
过板弯导致的可能是不完全锡裂现象,并且此不完全锡裂在PCB生产、运输及测试中并不一定能被发现,继而在用户现场端的使用初期也不一定就会出现失效;当产品经受用户各种环境(振动、机械冲击、温度变化等)的使用后或是经过运输后,锡裂现象可能会加剧,因此客户端反馈的失效也会越来越多。不完全的锡裂并不会导致即时失效,因此一般的功能测试不能检测出不良,需要通过一些破坏性的测试快速激发发掘问题。
在整个产品出货运输环节中,包装跌落会触发较大的板卡应变力导致BGA 可能出现锡球锡裂,因此针对风险度较大的PCBA应在设计阶段考虑引入动态应变力测试。
发明内容
为克服现有技术中存在的问题,本发明提供了一种PCBA-BGA chip(印刷电路板-球形矩阵封装芯片)应变力量测方法。
本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:该种PCBA-BGA chip应变力量测方法,包括以下步骤:
1)、应变片安装;
2)、板卡安装及系统组装;
3)、封箱、打包与称重;
4)、跌落测试;
5)测试结果采集、对比、分析。
进一步地,步骤1)中应变片的安装步骤为:
选取位置:具体位置为BGA芯片的器件焊球次外圈四个边角位置对应的 PCB背面;
打磨处理:找到器件背面对应的测试位置并作标识,将对应位置的元器件全部磨掉,贴上应变片;
将粘贴好的应变片的应力线整理整齐并固定在PCB上,同时对四个测试位置进行编号。
进一步地,应变片采用三轴应变片,四个测试位置用砂纸打磨平整,用胶水粘住应力片,应力片粘贴方向为45度朝芯片内侧或外侧。
进一步地,步骤2)中板卡安装及系统组装:
将贴好应变片的主板或板卡安装在测试样机内;
在机箱侧壁张贴G-sensor。
进一步地,步骤3)中封箱、打包与称重:
将测试样机放入包装箱内,依次将应变线连接至应变仪,G-sensor线连接至 G值数据采集器上;
封箱,然后称重。
进一步地,步骤4)中跌落测试:
根据重量设定跌落台跌落高度;
按照顺序执行包装跌落测试:上面-下面-左面-右面-前面-后面-长棱-中棱- 短棱-角。
进一步地,角为机箱前窗所在包装箱一面的左下角,长中短棱为测试角延伸的三条棱。
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