[发明专利]高导热性相变温控复合封装基板的制备方法在审
申请号: | 201810516946.1 | 申请日: | 2018-05-25 |
公开(公告)号: | CN108831837A | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 林奈;阎德劲;赖复尧;苏欣 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/367;H01L23/373;H01L23/427 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基板 复合基板 生瓷片 高导热性 温控腔 温控 制备 固态相变材料 低熔点合金 复合封装 共烧 电子元件安装腔 相变温控装置 基板层压 加热熔化 矩阵分布 密封盖板 氮化铝 导热率 等静压 集成度 源器件 夹层 叠层 多层 埋入 内嵌 灌注 密封 | ||
1.一种高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,具有如下技术特征:在至少三层AlN生瓷片的中间AlN生瓷片上制出相变温控腔(4),再经过叠层、等静压、共烧工序,形成内嵌相变温控腔夹层的氮化铝AlN基板(7);并在LTCC生瓷片基板(15)上制出以矩阵分布的电子元件安装腔体(11),然后将AlN基板和LTCC生瓷片基板层压在一起,再进行共烧,形成可以埋入电子有源器件或热敏感有源器件的LTCC-AlN复合基板(12),然后将低熔点合金固态相变材料(16)加热熔化至液态并灌注到复合基板的相变温控腔内,最后通过密封盖板(14)进行密封,完成高导热性相变温控复合基板的制备。
2.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:相变温控腔(4)为至少两条平行排列在中间层AlN生瓷片(2)上的腔体,上层AlN生瓷片(1)、下层AlN生瓷片(3)和中间层AlN生瓷片(2)层压、共烧形成内嵌相变温控腔(4)的AlN基板(7)。
3.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:电子元件安装腔体(11)由上层LTCC生瓷片(8)、中间层LTCC生瓷片(9)和下层LTCC生瓷片(10)层叠层压LTCC生瓷片上制出。
4.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:采用冲孔机或激光加工设备,分别在中间层AlN生瓷片(2)、下层AlN生瓷片(3)上制作相变温控腔(4)、灌注孔(5)、电路通孔以及定位通孔;采用丝网印刷机在上层AlN生瓷片(1)、中间层AlN生瓷片(2)、下层AlN生瓷片(3)表面印制电路的导线,同时填充上、中、下三层生瓷片上的电路通孔;在中间层AlN生瓷片(2)上的相变温控腔(4)内,填充,填充高度与相变温控腔(4)的腔体高度比为80~95%的牺牲材料(6),以防止相变温控腔(4)在层压时发生变形甚至是塌陷。
5.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:采用温水等静压对上层AlN生瓷片(1)、中间层AlN生瓷片(2)和下层AlN生瓷片(3)进行层压,层压的压力为至少15MPa、层压温度至少为70℃,持续至少15min。
6.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:将层压在一起的AlN生瓷片置于氮气气氛下从室温缓慢升温至500℃后,维持峰值温度1~2h,完成AlN生瓷片排胶,同时确保相变温控腔(4)内填充的牺牲材料(6)通过灌注孔(5)完全挥发;再逐步升温至1750℃~1850℃,维持峰值温度4h左右后逐步降至室温,形成内嵌相变材料安装腔体的AlN基板(7)。
7.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:将层压在一起的LTCC生瓷片基板(15)与AlN基板(7)放入烧结炉中进行共烧,首先缓慢升温至450~500℃后,维持峰值温度1~2h,完成LTCC生瓷片排胶;再缓慢升温至850~900℃后,维持峰值温度2~3h后逐步降至室温,完成LTCC生瓷片基板(15)和AlN基板(7)的烧结,形成LTCC-AlN复合基板(12)。
8.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:LTCC-AlN复合基板(12)烧结完成后,将LTCC-AlN复合基板(12)和低熔点合金固态相变材料(16)放入100℃~110℃烘箱中,加热直至低熔点合金全部熔化为液态,再通过焊接在复合基板灌注孔(5)上的灌注接头(13)注入相变温控腔(4),最后将密封盖板(14)焊接在灌注接头(13)的台阶孔上,完成低熔点合金固态相变材料的密封。
9.如权利要求1所述的高导热性相变温控复合封装基板的制备方法,其特征在于:AlN基板(7)通过内嵌相变温控腔(4)填充的低熔点合金固态相变材料(16),从低熵聚集态转变到高熵聚集态物质时吸收大量热量,将电子有源器件的温度控制在要求范围内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所),未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810516946.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造