[发明专利]一种卡托拔插测试装置以及卡托拔插测试方法

说明书

本发明涉及电子设备接口的拔插测试装置，特别涉及一种卡托拔插测试装置以及卡托拔插测试方法。卡托拔插测试装置包括转盘以及设在转盘上的卡针、卡托夹和压力指，转盘转动到第一预设位置时，卡针对准待测设备卡托的卡针孔，并插入卡针孔将卡托从待测设备的卡槽中顶出；转盘转动到第二预设位置时，卡托夹正对卡托，将卡托夹住，拔至预松位；转盘转动到第三预设位置时，压力指正对卡托，将卡托完全压入待测设备的卡槽中，通过转盘周期性的切换卡针、卡托夹和压力指，可以对卡托进行持续的拔插测试。

技术领域

本发明涉及电子设备接口的拔插测试装置，特别涉及一种卡托拔插测试装置以及卡托拔插测试方法。

背景技术

电子设备在生产过程中，通常要进行卡槽的拔插测试，现有技术中的内存卡拔插测试测试装置或者USB拔插测试装置，都可以对内存卡或USB接头进行反复推拉的方式进行自动拔插。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：当对手机进行SIM卡托的拔插测试时，由于SIM卡托插入手机的卡槽内会锁定，需要用卡针进行解锁，无法用反复推拉的方式对SIM卡托进行拔插测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种卡托拔插测试装置，可以实现SIM卡的卡托在手机卡槽内的拔插测试。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种卡托拔插测试装置，包括：卡针，用于插入待测设备卡托的卡针孔内，将位于待测设备的卡托从待测设备的卡槽内部分顶出；卡托夹，用于夹住从待测设备的卡槽内已被顶出的卡托部分，并用于将所述卡托从待测设备的卡槽拔至预松位，且所述卡托在被拔至预松位时，所述卡托还有部分位于所述卡槽内；压力指，用于将已被拔至预松位的卡托完全压入待测设备的卡槽内；转盘，用于承载并固定所述卡针、所述卡托夹和所述压力指；所述卡针、所述卡托夹和所述压力指绕所述转盘的盘心环设于所述转盘上；所述卡针用于在所述转盘转动至第一预设位置时对准所述卡托上的所述卡针孔；所述卡托夹用于在所述转盘转动至第二预设位置时正对所述卡托；所述压力指用于在所述转盘转动至第三预设位置时正对所述卡托。

本发明实施方式相对于现有技术而言，面对待测设备的卡托，首先转动转盘至第一预设位置，用于卡针将卡槽从待测设备的卡槽内部分顶出；再转动转盘至第二预设位置，正对卡托的卡托夹夹住卡托，并将卡托拉至预松位；再转动转盘至第三预设位置，正对卡托的压力指将位于预松位的卡托完全压入待测设备的卡槽，该拔插测试装置通过转盘转换工具，依次使用卡针、卡托夹和压力指对位于卡槽内的卡托进行顶出、拔出、压入的操作，可以实现SIM卡的卡托在手机卡槽内的拔插测试。

另外，所述卡托拔插测试装置还包括第一驱动装置，所述第一驱动装置与所述转盘连接，用于驱动所述转盘朝所述待测设备的方向进行直线运动；所述第一驱动装置用于在所述转盘转动至第一预设位置时，驱动所述转盘朝向所述待测设备的方向运动，所述转盘用于在朝向所述待测设备的方向运动带动所述卡针插入所述待测设备的卡托的卡针孔内；所述第一驱动装置用于在所述转盘转动至第二预设位置时，驱动所述转盘朝向所述待测设备的方向运动，所述转盘用于在朝向所述待测设备的方向运动带动所述卡托夹夹住所述待测设备的卡托；所述第一驱动装置用于在所述转盘转动至第三预设位置时，驱动所述转盘朝向所述待测设备的方向运动，所述转盘用于在朝向所述待测设备的方向运动带动所述压力指压入已被拔至预松位的卡托。

另外，所述拔插测试装置还包括位置获取装置、主控装置和第二驱动装置，所述位置获取装置用于获取所述待测设备的卡槽的位置信息，并将所述位置信息传递给所述主控装置，所述主控装置用于根据所述位置信息控制所述第二驱动装置驱动所述转盘运动至工作位置进行定位，所述转盘位于所述工作位置时与所述待测设备的卡槽相对。在拔插测试装置开始对待测设备和卡托测试之前，先采用位置获取装置和第二驱动装置对转盘进行定位。

另外，所述位置获取装置为摄像装置，所述摄像装置设在所述转盘上。