[发明专利]一种核仪表系统参数标定方法、装置及系统有效
申请号: | 201810507957.3 | 申请日: | 2018-05-24 |
公开(公告)号: | CN109031396B | 公开(公告)日: | 2020-09-18 |
发明(设计)人: | 郭远熊;洪志强;易林;冯晓明;李文;张享明;彭松 | 申请(专利权)人: | 岭东核电有限公司;岭澳核电有限公司;大亚湾核电运营管理有限责任公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00;G21C17/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 官建红 |
地址: | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 仪表 系统 参数 标定 方法 装置 | ||
1.一种核仪表系统参数标定方法,其特征在于,包括:
获取核仪表系统电离室电流数据;
根据所述电流数据计算上部电流和下部电流,所述上部电流为上半部电离室的电流,所述下部电流为下半部电离室的电流;
根据所述上部电流和所述下部电流,通过核功率的计算公式反算,获得第二核仪表系统参数,其中所述第二核仪表系统参数为新的核仪表系统参数;
将六节电离室中的第一至第三节电离室的电流数据相加得到所述上部电流;
将六节电离室中的第四至第六节电离室的电流数据相加得到所述下部电流;
根据公式IU=I1+I2+I3,IL=I4+I5+I6,Pr=(IU*KU+IL*KL)*12,G'k=Pth/Pr,计算核仪表系统四个通道的新核仪表系统G′k参数;
其中,IU为上部电流,IL为下部电流,I1、I2、I3、I4、I5、I6分别为第一节、第二节、第三节、第四节、第五节、第六节电离室的电流数据,Pr为核功率,KU、KL分别为根据机组确认的固定系数,G′k为核仪表系统四个通道的新反算核仪表系统参数,Pth为热功率,k取之1、2、3、4。
2.如权利要求1所述的核仪表系统参数标定方法,其特征在于,所述获取核仪表系统电离室电流数据,包括:
通过工业数据网采集系统KDC查找核仪表系统四个通道的六节电离室电流的变量名;
设置固定的时间间隔,导出所述变量名对应的电流数据。
3.如权利要求1所述的核仪表系统参数标定方法,其特征在于,所述根据所述上部电流和所述下部电流,通过核功率的计算公式反算,获得第二核仪表系统参数,还包括:
根据公式ΔGk=G'k-Gk,验证核仪表系统四个通道的新确认的核仪表系统Gk参数的正确性;
其中,Gk’参数为核仪表系统四个通道的新反算的核仪表系统参数,Gk参数为核仪表系统四个通道的新确认的核仪表系统参数,ΔGk为新反算的核仪表系统参数与新确认的核仪表系统参数的偏差,k取值1、2、3、4。
4.如权利要求1所述的核仪表系统参数标定方法,其特征在于,所述根据所述上部电流和所述下部电流,通过核功率的计算公式反算,获得第二核仪表系统参数,还包括:
根据公式IU=I1+I2+I3,IL=I4+I5+I6,ΔI1=α*(IU*KU-IL*KL)*12,计算堆外轴向功率偏差ΔI1,验证核仪表系统四个通道的新确认的核仪表系统α参数、KU参数以及KL参数的精度;
其中,IU为上部电流,IL为下部电流,I1、I2、I3、I4、I5、I6分别为第一节、第二节、第三节、第四节、第五节、第六节电离室的电流数据,α、KU、KL为新确认的核仪表系统的固定系数,ΔI1为堆外轴向功率偏差。
5.如权利要求4所述的核仪表系统参数标定方法,其特征在于,所述根据所述上部电流和所述下部电流,通过核功率的计算公式反算,获得第二核仪表系统参数,还包括:
根据核仪表系统RPN核功率Pr的计算公式反算得到第二核功率;
通过轴向功率偏差ΔI的计算公式反算堆外轴向功率偏差ΔI1;
将所述第二核功率与二回路热平衡系统KME测出的热功率Pth进行比较,将所述堆外轴向功率偏差ΔI1与堆芯测量系统RIC测出的堆内轴向功率偏差ΔI2进行比较,验证新确认的核仪表系统α参数、KU参数以及KL参数的精度。
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