[发明专利]一种提高模拟回路采样精度的控制方法

说明书

本发明公开了一种提高模拟回路采样精度的控制方法，所述方法包括：将模拟系统等待处理的模拟量送至转换系统1，经转换系统1处理为差分信号后，将所得差分信号送至相应的模拟采样系统；经采样系统采样后得到相应的采样电压Us；将所得采样电压Us送至转换系统2，经转换系统2的比例放大网络处理后得到相应转换结果AD_U；将A/D转换结果AD_U送至MCU控制系统，控制系统通过对AD转换结果AD_U进行判断后完成对模拟回路的检测算法。采用本发明的技术方案，能够保证在对象模拟系统输出较小模拟量的情况下的精确检测，从而达到精确控制并简化控制回路及控制系统算法的目的。

技术领域

本发明涉及伺服电机控制技术领域，具体是一种提高模拟回路采样精度的控制方法。

背景技术

近年来，随着自动化程度的不断提高，各类压力、温度、电信号等模拟量在控制系统中的应用层面越来越广。其不仅用于对象控制、数据显示而且参与各种机械保护。因此模拟量信号的数据可靠性、采样准确性也越来越重要。其中，模拟量采样的精度在很大程度上决定了自动控制系统的动、静态性能。因此，精确的模拟量检测是提高系统控制精度、稳定性和快速性的重要条件，也是实现高性能闭环控制系统的关键。尤其是对于小模拟量控制系统来说，采样精度更为重要。但是目前的模拟量处理方法存在采样精度不高或成本太高、控制算法过于复杂的问题。为改善这一现状，必须针对小模拟量提出一种提高检测精度的控制方法，以降低开发成本同时简化控制算法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种提高模拟回路采样精度的控制方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种提高模拟回路采样精度的控制方法，包含以下步骤：

A、模拟系统自检；

B、若自检结果正常，则转至S3；若自检结果异常，则转至步骤A；

C、将模拟系统等待处理的模拟量送至转换系统1；

D、转换系统1将相应模拟量处理为差分信号；

E、将所得差分信号送至相应的模拟采样系统；

F、模拟采样系统采样后得到相应的采样电压Us；

G、将所得采样电压Us送至转换系统2；

H、转换系统2通过比例放大网络对采样电压Us处理后得到相应转换结果AD_U；

I、将A/D转换结果AD_U送至MCU控制系统；

J、控制系统通过对AD转换结果AD_U进行判断；

K、控制系统完成对模拟量的检测算法。

作为本发明的进一步技术方案：所述采样电压Us的计算方法为：Us＝Vref1+(U₊-U_-)，其中，U+、U-分别为模拟采样输入，Vref1为上抬电压；Us为经过采样系统得到的采样电压。

作为本发明的进一步技术方案：所述AD_U的计算方法为：AD_U＝Vref2-A*(U₊-U_-)，其中，Vref2为上抬电压；A为转换系统的放大倍数；AD_U为转换系统2的转换结果。

作为本发明的进一步技术方案：所述模拟采样系统包括电阻R1、电阻R2、电阻R3和电压比较器U1，电阻R1的一端连接模拟采样输入U+和电阻R3，电阻R3的另一端连接电阻R2和模拟采样输入U-，电阻R2的另一端连接电阻R5、电容C2和电压比较器U1的输入端，电阻R1的另一端连接电压比较器U1的另一个输入端，电压比较器U1的输出端连接电容C2的另一端、电阻R5的另一端和采样电压Us。