[发明专利]通道间相位差、幅度差的高精度测量方法有效
申请号: | 201810502059.9 | 申请日: | 2018-05-23 |
公开(公告)号: | CN108710027B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 庞豪;王江;赵蓓 | 申请(专利权)人: | 成都玖锦科技有限公司 |
主分类号: | G01R23/165 | 分类号: | G01R23/165 |
代理公司: | 成都坤伦厚朴专利代理事务所(普通合伙) 51247 | 代理人: | 刘坤 |
地址: | 610000 四川省成都市成都高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通道 相位差 幅度 高精度 测量方法 | ||
1.一种通道间相位差、幅度差的高精度测量方法,包括如下步骤:
(A)假设多通道输入信号为r(k),其中k=0,1,2,...,K-1表示K个通道的通道号,且这K个通道间是相参同源的;
(B)对各通道进行数字下变频处理,并通过抽取滤波器进行滤波,得到下变频后的IQ数据rddc(k),其中k=0,1,2,...,K-1;
(C)选择任一通道r(m)作为参考通道,m为(0,1,2...,K-1)中的任一值,对rddc(m)取共轭得到
(D)将其他通道的下变频数据与参考通道的下变频共轭数据相乘得到处理后的复数信号:其中k=0,1,2,...,K-1且k≠m;
(F)根据得到的复数信号按如下公式计算第k通道与第m通道之间的相位差和幅度差AΔ(k):
其中,k=0,1,2,...,K-1且k≠m。
2.如权利要求1所述的通道间相位差、幅度差的高精度测量方法,其特征在于:所述的输入信号包括序列采样时刻,步骤A、B、C、D、F修改为如下步骤:
(A1)假设多通道输入信号为r(k,n),其中k=0,1,2,...,K-1表示K个通道的通道号,且这K个通道间是相参同源的,n为序列采样时刻;
(B1)对各通道进行数字下变频处理,并通过抽取滤波器进行滤波,得到下变频后的IQ数据rddc(k,n),其中k=0,1,2,...,K-1;
(C1)选择任一通道r(m,n)作为参考通道,m为(0,1,2...,K-1)中的任一值,对rddc(m,n)取共轭得到
(D1)将其他通道的下变频数据与参考通道的下变频共轭数据相乘得到处理后的复数信号:其中k=0,1,2,...,K-1且k≠m;
(E1)将复数信号rmul(k,n)的实部、虚部分别进行N点均值滤波得到:
其中,k=0,1,2,...,K-1且k≠m;
(F1)根据得到的复数信号按如下公式计算第k通道与第m通道之间的相位差和幅度差AΔ(k):
其中,k=0,1,2,...,K-1且k≠m。
3.如权利要求2所述的通道间相位差、幅度差的高精度测量方法,其特征在于:通过ADC采集各通道信号并输出至FPGA或上位机软件中进行处理,各级电路都是同源的且采集ADC的时钟以及采样触发信号都是同步的。
4.如权利要求2所述的通道间相位差、幅度差的高精度测量方法,其特征在于:所述的步骤B1中,下变频是通过采用常规的级联CIC+HB+FIR滤波器实现的。
5.如权利要求2所述的通道间相位差、幅度差的高精度测量方法,其特征在于:所述的步骤E1中,均值滤波器为一阶一级CIC滤波器,CIC的系统函数为:
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