[发明专利]测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质，将描述自检关系文档输入至自检关系输入模块，通过调用已有的API接口，可以从文档中解析得到系统内自检关系；自检关系分配验证模块，可以通过导入已建立完毕的ATML模型与系统自检关系，得到系统自检关系与测试站端口间关系；自检适配器连线关系自动生成模块，通过系统自检与测试站端口间关系，得出自检适配器端口间连线关系；自检适配器连线关系导出模块，将自检适配器端口间连接关系导出生成XML格式文档。利用面向信号思想指导自检适配器连线关系的开发，减少系统集成人员的开发工作，降低系统专用型、增强系统复用性。

技术领域

本发明涉及测试系统技术领域，尤其涉及测试系统自检适配器连线生成方法、装置设备及存储介质。

背景技术

测试系统自检是指在使用测试系统对被测件进行测试之前对测试系统的可用性进行的一种检查。该检查的内容主要包括测试系统内测试仪器与开关设备是否能正常工作、系统控制计算机与测试仪器之间的通讯是否正常、信号连接线路是否完好、激励信号输出是否正确、响应信号测量是否准确等。测试系统功能正常是对被测件准确测试的前提，因此测试系统自检是自动测试中重要且不可缺少的构成环节之一，自检适配器(ITA,Interface Test Adapter)又是完成测试系统自检不可或缺的组成部分。

在自动化测试系统中，测试程序(TPS)开发采用的技术直接与测试系统性能挂钩，目前测试程序开发技术主要有两种，一种是面向仪器的测试程序开发技术，一种是面向信号的测试程序开发技术。面向仪器的测试程序开发技术的核心特征是采用仪器操作描述测试程序，而面向信号的测试程序为了屏蔽具体的仪器操作，采用与具体仪器无关的信号属性进行开发。

目前测试系统的自检程序普遍采用面向仪器方式开发。在面向仪器方式开发的自检程序中，自检适配器的连线关系，需要自检流程设计人员先将自检流程设计完毕后，才能利用自检流程完成自检适配器内部连线关系，指导自检适配器的物理层的开发工作。在这种面向仪器的自检适配器连线关系的开发方式下，首先面临人工开发工作量大的问题；其次在开发完毕后难以进行简便地针对性修改；最后自检适配器连线关系是针对某系统的，专用性强，难以进行复用，开发工作量大且系统可裁剪性与可扩充性弱。

为简化自检适配器连线关系的开发过程，解决目前面向仪器的开发方式进行自检开发过程中，自检适配器内部连线的逻辑关系的问题，本专利提出基于面向信号的测试系统自检适配器连线生成方法及装置，依赖于测试系统软件对于面向信号(ATML)开发方式的支持，本发明利用自检适配器连线自动生成方法解决适配器连线逻辑关系开发工作量大且难以进行针对性改动的问题；利用面向信号的方式解决难以复用和专用型强的问题，提高系统可裁剪性与可扩充性。

目前仪器的开发方式开发自检适配器连线逻辑关系需要经过以下步骤，如图1所示：

1、根据测试系统中需要自检的资源收集相关资料并整理；

2、设计该测试系统的自检方法；

3、利用该自检方法，分析系统内部需要自检的激励或测量信号连接逻辑关系，得到自检逻辑关系；

4、利用自检逻辑关系，分析测试站端口所需的连接关系，得到测试站端口连接关系；

5、利用测试站端口连接关系，设计自检适配器内部连接关系；

6、重复步骤3至步骤5，修改自检逻辑/测试站端口连接关系/自检适配器，直至自检适配器内部连接关系能否满足自检需求，则结束。

在这种自检适配器连线关系的开发方式下，首先面临人工开发工作量大的问题；其次在开发完毕后难以进行简便地针对性修改；最后自检适配器连线关系是针对某系统进行开发，具有专用性，难以进行复用，开发工作量大且系统可裁剪性与可扩充性差。

发明内容