[发明专利]一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法及系统

权利要求书

1.一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1.创建测试环境；

步骤2.启动测试；

步骤3.获取初始PCIE卡连接PCIE设备种类及数量，并存储；

步骤4.机械测试开始，实时检测所有PCIE卡连接的PCIE设备；

步骤5.当实时检测到PCIE卡连接的PCIE设备数量与初始值不同时，则判定有PCIE设备丢失，存储丢失的PCIE设备信息，进行报警，停止机械测试。

2.如权利要求1所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，步骤1中创建测试环境的具体步骤包括：

步骤11.插接好PCIE卡连接的PCIE设备；

步骤12.安装操作系统；

步骤13.将测试脚本导入系统。

3.如权利要求2所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，步骤2中，通过执行测试脚本启动测试。

4.如权利要求2所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，步骤3中，通过测试脚本获取初始PCIE卡连接的PCIE设备种类及数量。

5.如权利要求2所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，步骤4中，通过测试脚本实时检测所有PCIE卡连接的PCIE设备。

6.如权利要求1所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，步骤5中，当实时检测到PCIE卡连接的PCIE设备数量与初始值不同时，则判定有PCIE设备丢失，还存储PCIE设备丢失的时间及测试环境信息。

7.如权利要求1所述的一种在机械测试汇总监测PCIE卡在位的方法，其特征在于，步骤5中，当实时检测到PCIE卡连接的PCIE设备数量与初始值不同时，则判定有PCIE设备丢失，存储并打印输出丢失的PCIE设备信息，触发蜂鸣器进行报警。

8.一种在机械测试中监测PCIE卡在位的系统，其特征在于，包括：

测试环境创建模块，用于创建测试环境；

测试启动模块，用于启动测试；

初始PCIE设备信息获取模块，用于获取初始PCIE卡连接PCIE设备种类及数量；

初始PCIE设备信息存储模块，用于存储初始PCIE卡连接PCIE设备种类及数量；

PCIE设备信息实时监测模块，用于机械测试开始后，实时检测所有PCIE卡连接的PCIE设备；

报警模块，用于当实时检测到PCIE卡连接的PCIE设备数量与初始值不同时，判定有PCIE设备丢失，进行报警；

丢失PCIE设备信息存储模块，用于当判定PCIE设备丢失时，存储丢失的PCIE设备信息；

测试停止模块，用于停止机械测试。

9.如权利要求8所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的系统，其特征在于，测试环境创建模块，包括

PCIE设备插接单元：用于插接好PCIE卡连接的PCIE设备；

操作系统安装单元：用于安装操作系统；

测试脚本导入单元：用于将测试脚本导入操作系统。

10.如权利要求8所述的一种在机械测试中监测PCIE卡在位的系统，其特征在于，还包括：

PCIE设备丢失时间存储模块，用于当判定PCIE设备丢失时，存储PCIE设备丢失时间及测试环境；

PCIE设备丢失信息打印模块，用于当判定PCIE设备丢失时，打印输出丢失的PCIE设备信息。