[发明专利]承载治具有效

专利信息
申请号: 201810486040.X 申请日: 2018-05-21
公开(公告)号: CN108732799B 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 陈黎暄 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 承载
【说明书】:

发明提供一种承载治具,用以承载掩膜板,包括一升降机构;一平移机构,所述平移机构与所述升降机构固定连接;所述掩膜板嵌设于所述平移机构内;所述平移机构通过平移使得所述掩膜板移动。有益效果:本发明提供的承载治具,使得掩膜板相对显示器移动,实现掩膜板对显示器局部区域亮度的测试,从而精确推断出漏光来自的像素区域。

技术领域

本发明涉及显示领域,尤其涉及一种承载治具。

背景技术

目前,液晶显示器的对比度是一个非常重要的画质参数。在与OLED的竞争中,需要利用局部背光调节和高对比度等方案,来弥补液晶显示面板与OLED对比度的差距。除局部背光调节技术以外,单纯的液晶面板在亮度不变的背光系统上,其全白最亮画面的亮度与最暗画面的亮度的比值是一个很重要的参数,用来衡量液晶面板的画质好坏。对比度从5000:1向6000:1、7000:1和8000:1的产品进阶过程中,分析和判断暗画面亮度过高的原因,是很重要的一种推断并改进影响因子的方法。

常见的影响液晶显示器暗态漏光亮度的因子,包括显示区域液晶的初始状态,黑矩阵遮光的位置与好坏等。但现有技术无法在较暗的画面下进行像素级的测量,现有技术只能测量一个区域的漏光强度的总和。

综上所述,现有测试设备存在无法精确测量漏光区域的问题。

发明内容

本发明提供一种承载治具,用以调节掩膜板与显示器的相对位移,能够精确测试漏光区域,从而推断出漏光来自的像素区域,进而解决显示的技术问题。

为解决上述问题,本发明提供的技术方案如下:

本发明提供一种承载治具,用于承载显示面板局部亮度测试用的掩膜板;其特征在于,所述承载治具包括:1、一种承载治具,用于承载掩膜板;其特征在于,所述承载治具包括:一升降机构,包括升降件;一平移机构,包括横向托板和纵向托板;其中,所述横向托板与所述升降机构固定连接,所述纵向托板与所述横向托板固定连接。

根据本发明一优选实施例,所述横向托板包括第一托板和第二托板,所述第一托板和所述第二托板平行设置,所述第一托板和所述第二托板均与所述升降机构固定连接。

根据本发明一优选实施例,所述纵向托板包括第三托板和第四托板,所述第三托板与所述第四托板平行设置。

根据本发明一优选实施例,所述第一托板和所述第二托板均设置有内嵌槽,所述纵向托板贯插于所述内嵌槽中。

根据本发明一优选实施例,所述第一托板和所述第二托板的表面均间隔设置有限位孔,所述限位孔中设置有螺丝,所述螺丝用以固定所述掩膜板。

根据本发明一优选实施例,所述第三托板和所述第四托板通过所述内嵌槽贯插于所述第一托板和所述第二托板之间,所述第三托板与所述第四托板用于在所述内嵌槽中平行移动

根据本发明一优选实施例,所述升降机构上设置有导轨或者滑动槽,所述第一托板的端部与所述第二托板的端部均用于在所述导轨或者所述滑动槽内滑动。

根据本发明一优选实施例,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板形成一个方形开口,所述掩膜板嵌设于所述方形开孔内。

根据本发明一优选实施例,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板的上表面均设置有第一阶梯槽,所述掩膜板的下表面设置有相适配的第二阶梯槽,所述第一托板、所述第二托板、所述第三托板以及所述第四托板的边缘与所述掩膜板的边缘配合连接。

根据本发明一优选实施例,所述横向托板和所述纵向托板的表面均设置有长度刻度。

本发明的有益效果为:本发明提供一种承载治具,用于承载显示面板局部亮度测试用的掩膜板,承载治具通过水平移动,使得掩膜板相对显示器移动,能够使掩膜板精确测量漏光区域,推断出漏光来自的像素区域,从而确定暗态漏光问题的主要原因,进而解决显示的技术问题。

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