[发明专利]一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法有效

专利信息
申请号: 201810479699.2 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN108344729B 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 朱德华;王满仓;徐玲杰;蔡燕;陈孝敬;袁雷明;刘文文;张健;曹宇 申请(专利权)人: 温州大学
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71
代理公司: 温州名创知识产权代理有限公司 33258 代理人: 陈加利
地址: 325000 浙江省温州市瓯*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 多谱线内 定标 校准 激光 诱导 击穿 光谱 快速 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法,其特征在于:

(1)建立多谱线内定标校准曲线,对待测对象取样进行激光诱导击穿光谱检测,并在激光诱导击穿光谱图中选择并计算多条的分析谱线强度之和与多条内标谱线强度之和的比值,作为第一坐标,其具体为:在数据处理过程中,选择多条分析元素谱线和多条内标元素谱线,并计算其强度和的比值:,其中p为分析元素谱线强度,q为内标元素谱线强度;以分析元素的浓度值作为第二坐标,建立多谱线内定标校准曲线;

(2)根据步骤(1)建立的多谱线内定标校准曲线,对待测对象的未知浓度的分析元素进行定量分析和检测元素成分的分析;

所述的待测对象为铅黄铜,其中,多条分析元素谱线为不同波长的Pb的谱线强度校准曲线,多条内标元素谱线为不同波长的Cu的谱线强度校准曲线;

所述的不同波长的Pb的谱线强度校准曲线的波长选择为:261.42 nm、280.20 nm、283.31 nm、368.35 nm、405.78 nm、424.49 nm、504.26 nm中的两种或多种;

所述的不同波长的Cu的谱线强度校准曲线的波长选择为:324.75 nm、327.40 nm、510.55 nm、515.32 nm、521.82 nm中的两种或多种;

第一坐标为纵坐标,第二坐标为横坐标。

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