[发明专利]基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法及系统

权利要求书

1.一种基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法，其特征在于：包括如下步骤：

1)建立Gamma偏差e、Gamma偏差变化率Δe和寄存器调节值f的模糊隶属度规则表；

2)输出模组芯片支持的第一张灰阶图，按照设置向模组芯片输出该灰阶绑点对应的R、G、B寄存器的一组寄存器值；

3)采集模组的Gamma值，并判断是否符合误差允许范围，是则前往步骤6)，否则前往步骤4)；

4)计算Gamma偏差e、Gamma偏差变化率Δe，并按论域等级进行模糊化，根据模糊隶属度规则表得到寄存器调节值f的模糊值；

5)对寄存器调节值f的模糊值进行解模糊，并根据解得的寄存器调节值f，向模组芯片输出，调节R、G、B寄存器，并返回步骤3)；

6)输出模组芯片支持的下一张灰阶图，直至每一组灰阶图调校完毕，执行OTP烧录，将调节后的每个绑点R、G、B寄存器值固化到模组IC的EEProm中。

2.根据权利要求1所述的基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法，其特征在于：所述步骤4)中Gamma偏差e、Gamma偏差变化率Δe的计算方法为：

Gamma偏差：e(k)＝θ(k)-θ_t(k)或e(k)＝θ_t(k)-θ(k)；

Gamma偏差变化率：Δe(k)＝(e(k)-e(k-1))/t

其中θ(k)为预设Gamma值，θ_t(k)为当前Gamma值，t为R、G、B寄存器步长。

3.根据权利要求2所述的基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法，其特征在于：所述Gamma偏差e、Gamma偏差变化率Δe和寄存器调节值f的论域均为13级，具体为：

e:{-6，-5，-4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5，6}；

Δe:{-6，-5，-4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5，6}；

f:{-6，-5，-4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5，6}。

4.根据权利要求2所述的基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法，其特征在于：Gamma值的范围为[1.9,2.5]，Gamma偏差值e的范围为[-0.3,0.3]，寄存器调节值f的取值范围为[-12,12]。

5.根据权利要求1所述的基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法，其特征在于：所述Gamma偏差e、Gamma偏差变化率Δe和寄存器调节值f的模糊集均为7个，具体为：NB/负大，NM/负中，NS/负小，ZR/零，PS/正小，PM/正中，PB/正大。

6.一种用于权利要求1～5中任一项所述的基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法的系统，其特征在于：包括PC(1)、模糊控制器(2)、图像发生器(3)和光学测试仪(4)，所述PC(1)与模糊控制器(2)连接，所述模糊控制器(2)分别与图像发生器(3)和光学测试仪(4)连接，所述图像发生器(3)和光学测试仪(4)均与OLED模组(5)连接；

所述PC(1)用于向模糊控制器(2)发送光学测试仪配置参数和Gamma完整配置参数；

所述模糊控制器(2)用于根据所述光学测试仪配置参数和Gamma完整配置参数控制图像发生器(3)调节OLED模组(5)的IC中的R、G、B寄存器值，使得模组芯片支持的每一张灰阶图的Gamma值落在目标值的误差范围内，然后通过控制图像发生器(3)执行OTP烧录；

所述图像发生器(3)用于根据模糊控制器(2)的控制指令调节OLED模组(5)的IC中的寄存器值并将调节完成的寄存器值烧录至OLED模组(5)的IC中；

所述光学测试仪(4)用于根据模糊控制器(2)的控制指令采集OLED模组(5)显示的目标绑点的Gamma当前值。

7.根据权利要求6所述的基于模糊控制器的OLED模组Gamma调校方法的系统，其特征在于：所述模糊控制器(2)与图像发生器(3)通过RJ-45接口连接，所述模糊控制器(2)与光学测试仪(4)通过串口连接。