[发明专利]基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法

说明书

本发明涉及一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，该方法包括下述步骤：计算得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式；计算拟合误差并将其存到“波长误差”Column中的对应位置；针对待测样品，用户选择要测量的预检荧光波长，利用“波长误差”Column中存储的波长误差对预检荧光波长进行校正得到已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列，从而得到待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列位置，从而测量待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。利用本发明能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。

技术领域

本发明属于原子荧光光谱技术领域，涉及一种适用于基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法。

背景技术

在光谱仪器的所有应用中，波长校准是一项不可缺少的工作，其功能为准确确定仪器分光(或光选择)部件位置和波长对应关系，一般校准过程中,常采用曲线拟合方式实现。

实用新型专利“光谱仪多波长校准系统”，授权公告号：CN202676288U，利用GasCell中51个标定的吸收峰的波长位置及偏差值拟合光谱误差线，得到连续偏差值作为光谱仪的补偿数据，修正光谱仪测得的结果。克服汞灯特征谱线或者激光器校准方法只能校准1-2个波长位置偏差或校准波长整体平移，对每个波长点偏差不一致的光谱仪校准效果很差的缺点。

发明专利申请“一种线性CCD光谱仪的波长校准方法”，申请号：201710783886.5，利用低压汞灯五组特征谱线的谱峰位置及波长进行多项式拟合完成预校准，利用氘灯进行响应度校准，采集并扣除暗噪声并再次获取谱峰位置进行特征峰定位，再利用最小二乘法进行谱线拟合，得到谱线拟合波长误差并将其作为权重因子有限次迭代，求得拟合系数进而求得拟合光谱曲线。解决了线阵CCD对不同波长的响应度对峰值定位的影响，同时考虑了拟合误差的使用。

现有技术缺点：1.没有同时考虑多波长校准和拟合误差的影响；2.未应用插值计算方法或未考虑插值算法误差；3.每次波长校准必须全谱校准，计算冗余且无针对性。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，该方法能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。

为了解决上述技术问题，本发明的基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法包括下述步骤：

步骤一、点亮荧光光谱仪中一个或多个光源进行光谱检测得到光源激发谱图；这些光源发射的波长为“标准波长”Table中的已知的波长，选取其中的n个光源激发波长作为校准波长，将其存到“已校准波长”Table中；对得到的谱图寻峰得到n个校准波长对应的数字微镜列位置L₁、L₂...、L_i...L_n；

步骤二、由步骤一得到n组数据进行多项式拟合计算，得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式λ_S＝f(L)；

步骤三、将步骤二中得到的数字微镜列位置L₁、L₂...、L_i...L_n依次代入基本函数关系式λ_S＝f(L)中，计算得到n个拟合波长用n个校准波长分别减去对应的拟合波长得到n个拟合误差将n个拟合误差作为波长误差存到“波长误差”Column中的对应位置；