[发明专利]二维等离子激光装置有效

专利信息
申请号: 201810475426.0 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN110071423B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 果尚志;王俊元 申请(专利权)人: 果尚志
主分类号: H01S5/06 分类号: H01S5/06;H01S5/10
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 二维 等离子 激光 装置
【说明书】:

一种二维等离子激光装置,包含表面等离子共振腔,以及半导体原子单层所构成的增益介质。该增益介质位于等离子共振腔上。经由光激发或电激发,该表面等离子共振腔提供激光回馈机制,其表面等离子耦合增益介质中的电子电洞对,使激光由二维等离子激光装置的表面射出。

技术领域

发明是有关于一种半导体激光,特别是一种面射型激光元件与方法。

背景技术

因为过渡金属硫族化物(transition metal dichalcogenide,TMDC)由多层转为单层时会由间接能隙变成直接能隙的特性,使其成为发展半导体发光装置深具前途的材料[1]。最近,此类半导体发光装置一重要的发展是将高Q值(high Q,Q大约1000至5000)的光子共振腔模态,例如光子晶体[2,4]的缺陷模态(defect modes)以及微盘(microdisk)[3]的回音壁模态(whispering-galley modes),耦合二维(two-dimensional)半导体单层而发出激光[2-4]。然而,在这些光子共振腔激光的设计中,单层过渡金属硫族化物的二维材料特性还没有被完全探究。特别是,单层过渡金属硫族化物开启了基于半导体面射型激光(semiconductor-based surface-emitting laser)的可能性。与现有习知的边射型半导体激光元件相反,面射型激光元件具有好的光取出效率并可用于制作低阈值(lasingthreshold)的二维激光阵列,可望应用在高速光通信、显示、发光、感应,以及影像等领域的装置上。现今,范德瓦尔(ven der Waals)单层(如过渡金属硫族化物、石墨烯(graphene)、氮化硼(hexagonal boron nitride,BN))为天然钝化(naturally passivated),导致形成装置时有许多例外的变化,例如,经由堆叠形成异质结构以及与相异材料(如金属、氧化物等)轻易形成整合。

垂直共振腔边射型激光(vertical-cavity surface-emitting laser)是一种半导体激光二极管,其激光方向垂直于元件的顶表面。此类型的激光共振器是由两面布拉格反射镜(DBR)相夹一个由一到数个量子井所构成的晶元主动反应区,使激光带存在于其中。而平面的布拉格反射镜是由交替不同高低折射率的透镜所组成,其中每层透镜的厚度为四分之一的激光波长。迄今,由于布拉格反射镜材料的光、电、热性质不佳,许多波长范围无法做到激光,特别是可见光与长波长的红外线波长区段,使得此类型激光在应用上受到很大的限制。

为了实践半导体单层面射型激光,激子(exciton)的二维几何与横向(in-planeorientation)偶极矩需要一个设计完美的激光共振腔。基于金属的极子(Surface PlasmonPolaritons)共振腔,因其可集结传播极子沿着金属与介电物质的界面,使与紧紧局限于腔内的激子偶极矩近场耦合而特别受到注目。单层过渡金属硫族化物作为新兴二维光子材料[6]的初始即注意到此优点。最近的研究报告[7]提到其光致发光(PL)可增加几个量阶。然而,由于十分严格要求的共振腔设计与低损耗等离子材料,表面等离子共振激光迄今仍未被实践。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于果尚志,未经果尚志许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810475426.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top