[发明专利]一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法在审
申请号: | 201810470946.2 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN108983135A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 王涛;魏晶鑫 | 申请(专利权)人: | 济南置真电气有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R31/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250013 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 选线算法 准确率 校验 小电流接地故障 采样频率 故障录波数据 数据预处理 选线准确率 结果比对 输出结果 提高装置 选线装置 有效范围 评估 | ||
本发明专利涉及一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法,包括数据预处理,采样频率同一化处理,导入设定的选线算法模块并得出结果,将设定的选线算法的输出结果与正确结果比对,可对设定的选线算法的准确率进行评估。本发明能够有效利用现场不同类型的选线装置的故障录波数据,在采样频率同一化之后导入选线算法模块,对该选线算法进行准确率校验,确定每种选线算法的有效范围,从而最终达到提高装置选线准确率的目的。
技术领域
本发明属于电力系统继电保护测试技术领域,尤其涉及一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法。
背景技术
小电流接地系统,特别是经消弧线圈接地系统故障信号小,不易辨别,给继电保护和故障选线带来了很大的困难。在大多数情况下,不接地系统和经小电阻接地系统通过零序电流比幅比相法均可以准确地找出故障线路,实际应用效果较好。但是对于经消弧线圈接地系统,由于消弧线圈电感的补偿作用,故障线路零序电流的方向和大小已没有明显特征,并且随着系统脱谐度的改变而变化。因此经消弧线圈接地系统的故障选线问题更复杂,难度更大。
单一的选线判据往往不能覆盖所有的接地工况,准确率达不到百分之百。应用效果较好的选线方法,通常是以暂态选线方法为主,综合几种选线技术相结合的方法。目前的难点在于如何更好地确定每种选线方法的有效范围,即某种选线算法对现场哪些类型的接地故障有效。
发明内容
本发明提供了一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法,可以利用不同的故障选线录波数据对选线算法进行重复校验,从而优化算法提高选线准确率。
本发明采用的技术方案是:一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法,包括以下步骤:
步骤一,数据预处理,读取现场不同小电流接地故障选线装置存贮的故障录波数据信息;
步骤二,采样频率同一化处理,根据.cfg文件判断采样频率,并对频率不为设定频率的故障录波数据进行三次样条插值,使录波数据采样频率转换为设定的采样频率;
步骤三,将处理后的录波数据及线路配置信息导入设定的选线算法模块,并得出结果;
步骤四,将设定的选线算法的输出结果与正确结果比对,可对设定的选线算法的准确率进行评估。
本发明可以进一步的具体为:
所述步骤一中读取选线装置存贮的录波信息,读取COMTRADE文件中的配置文件(.cfg)和数据文件(.dat),并根据配置文件中特征值对不同的选线装置存贮的信息文件按照格式读取。
本发明可以进一步的具体为:
所述步骤二中的三次样条插值,通过计算原始故障录波数据时间与设定的采样频率的乘积来确定插值后采样点数,并利用三次样条插值函数对原始故障录波数据进行计算,实现对采样频率的同一化。
本发明可以进一步的具体为:
所述步骤三中的选线算法模块是将不同的选线原理算法进行模块化编程并留有标准数据接口的功能模块。
本发明的有益效果是:本发明一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法的优点在于:能够有效利用现场的不同类型的选线装置的故障录波数据,在采样频率同一化之后导入选线算法模块,对该选线算法进行准确率校验,确定每种选线算法的有效范围,从而最终达到提高装置选线准确率的目的。其中对于不同采样频率的故障录波数据使用三次样条插值进行同一化处理,既可保证收敛性,又可提高插值函数光滑性且计算简单、稳定性好、易于实现。
附图说明
附图1为一种用于校验小电流接地故障选线算法准确率的方法逻辑流程图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于济南置真电气有限公司,未经济南置真电气有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810470946.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:信号接收通道校准方法和磁共振校准系统
- 下一篇:一种波形校准方法和装置