[发明专利]一种自动探针测试装置及系统在审
| 申请号: | 201810463164.6 | 申请日: | 2018-05-15 |
| 公开(公告)号: | CN108646093A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
| 发明(设计)人: | 范一松;郭强;苏锐 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
| 代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陈娟 |
| 地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 探头支架 底板 待测器件 移动机构 自动探针 探头 侧板 测试装置 测试过程 测试效率 滑动连接 手动移动 轴向方向 针探 测试 | ||
本发明公开了一种自动探针测试装置,包括:侧板、底板、探头支架和移动机构,所述侧板的底部一端与所述底板的一端相连,且所述底板用于放置待测器件,所述探头支架与所述移动机构的一端固定相连,所述移动机构的另一端沿着所述侧板的轴向方向滑动连接;所述探头支架上设置有多组四针探头,每一组四针探头上至少包括一个四针探头,且所述四针探头在所述探头支架上可沿横向和纵向移动。另外,本发明还提供了一种基于该装置的自动探针测试装系统。利用本发明实施例,提高待测器件的测试效率,以及减少测试过程中进行人为的手动移动待测器件,减少器件的损坏几率。
技术领域
本发明涉及探针测试技术领域,尤其涉及一种自动探针测试装置及系统。
背景技术
探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备,适用于实验室或生产线使用。
现有的市场上的探针测试仪为单悬臂四探针测试仪,采用探头和测控电路分离的方式,只有一个探头适合于单点测试,因此,测试的点较少,且在需要对测试器件进行多点测试时,需人工移动被测器件。
可见,现有技术中的自动探测测试装置测试效率较低,且在测试过程中人为的移动待测器件容易造成器件的损坏
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种自动探针测试装置及系统,旨在提高待测器件的测试效率,以及减少测试过程中进行人为的手动移动待测器件,减少器件的损坏几率。具体技术方案如下:
为达到上述目的,本发明实施例提供了一种自动探针测试装置,包括:侧板、底板、探头支架和移动机构,所述侧板的底部一端与所述底板的一端相连,且所述底板用于放置待测器件,所述探头支架与所述移动机构的一端固定相连,所述移动机构的另一端沿着所述侧板的轴向方向滑动连接;所述探头支架上设置有多组四针探头,每一组四针探头上至少包括一个四针探头,且所述四针探头在所述探头支架上可沿横向和纵向移动。
本发明的优选实施方式中,所述移动机构包括:步进电机、滚珠丝杆、导杆、滑动板、连接板、测试信号电路板,所述测试信号电路板与所述步进电机通信连接,且所述步进电机与所述滚珠丝杆连接,所述滚珠丝杆与所述滑动板连接;且所述滑动板的两侧套设在所述导杆上,在所述滚珠丝杆的作用下沿着所述导杆上下滑动,所述连接板的一侧与所述滑动板固定连接,所述连接板的另一侧与所述探头支架固定连接。
本发明的优选实施方式中,所述探头支架设置有至少一个探头X轴位置调节机构和至少一个探头Y轴调节机构、至少一个滑动杆;
每一组四针探头沿Y轴分别固定在一个滑动杆上,滑动杆沿Y轴方向设置,每一组四针探头分别与一个X轴位置调节机构滑动连接,且每一个四针探头均与一个探头Y轴调节机构滑动连接。
本发明的优选实施方式中,还包括探头压力调节器,与每一个四针探头连接,且至少一个探头压力调节器与所述测试信号电路板连接,将该探头压力调节器信号反馈至测试信号电路板上。
本发明的优选实施方式中,所述探头支架设置有第一延伸部和第二延伸部,所述滑动杆的一端与所述第一延伸部滑动连接,所述滑动杆的另一端与所述第二延伸部滑动连接,所述滑动杆设置有不大于每一组四针探头对应数量个开槽,置于所述开槽中的四针探头沿着所述开槽方向进行。
本发明的优选实施方式中,每一组四针探头的个数为3个,所述滑动杆的数量为3个,且开槽数量为2个,且在所述侧板对应的外壳设上设置有显示器和按键。
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