[发明专利]半导体存储装置、存储器控制器及存储器的监视方法在审

专利信息
申请号: 201810456542.8 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN108877859A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 永岛裕二 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: G11C11/4074 分类号: G11C11/4074
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;闫小龙
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存储器 监视 读出 加密数据 错误检测结果 半导体存储装置 存储器控制器 错误检测处理 读出数据 恶化度 解码部 存储器存取部 错误检测部 动作停止 写入指令 解码 写入 指令
【说明书】:

本发明提供半导体存储装置、存储器控制器及存储器的监视方法。具有:监视部,间断地执行对存储器的恶化度进行监视的监视处理;存储器存取部,在接收写入指令的情况下向存储器写入加密数据、第1编码及第2编码,并在接收读出指令的情况下或执行监视处理时从存储器读出加密数据、第1编码及第2编码;解码部,对从存储器读出的加密数据进行解码而得到读出数据;以及错误检测部,对读出数据及从存储器读出的第1编码实施错误检测处理而得到第1错误检测结果、或者对从存储器读出的加密数据及第2编码实施错误检测处理而得到第2错误检测结果,监视部在执行监视处理时使解码部的动作停止,并且基于第2错误检测结果求得所述恶化度。

技术领域

本发明涉及半导体存储装置、控制存储器的存储器控制器、及存储器的监视方法。

背景技术

近年来,为了保护机密数据,提出了对成为保护对象的信息数据进行加密并存放于盘的存储装置(例如,参照专利文献1)。

在这样的存储装置中,向盘存储对与该信息数据一起附加到该信息数据的错误检测用的CRC(循环冗余码校验:Cyclic Redundancy Check)代码例如利用密钥来加密的加密数据。

因而,为了取得存放于该存储装置的信息数据,首先,从盘读出加密数据,并对读出的加密数据实施解除密码的解码处理,从而将信息数据及CRC代码复原。再者,存储装置对这些信息数据及CRC代码实施错误检测处理,在未检测到错误的情况下,将该信息数据作为读出数据并加以输出。

【现有技术文献】

【专利文献】

专利文献1:日本特开2008-52360号公报。

发明内容

【发明要解决的课题】

不过,还考虑将如上述的加密的数据存储在例如NAND型闪速存储器这样的非易失性半导体存储器而不是存储在盘的情况。

在NAND型闪速存储器中,除了进行响应来自外部的读出存取的普通的数据读出之外,进行监视存储器的存储区域的恶化度的存储器监视。

在该存储器监视中,对于NAND型闪速存储器的各块以页单位进行数据(例如作为错误检测用的编码包含CRC代码)的读出。此时,存放的数据在如上述被加密的情况下,通过对该读出的加密数据进行解码而得到解除密码的读出数据。

而且,基于对该读出数据实施错误检测处理而得到的错误检测结果,求得存放有该读出数据的存储区域的恶化度。因而,若对非易失性半导体存储器进行加密数据的写入,则每次进行上述的存储器监视时,会实施解除密码的解码处理,因此出现导致电力消耗量及监视上花费的时间增大的问题。

因此,本发明目的在于提供能够减少存储器的监视上花费的时间及电力消耗量的半导体存储装置、存储器控制器及存储器的监视方法。

【用于解决课题的方案】

本发明所涉及的半导体存储装置,包括存储器和接受写入指令或读出指令并控制所述存储器的存储器控制器,所述存储器控制器具有:监视部,间断地执行对在从所述存储器读出的数据产生的错误的数量所对应的所述存储器的恶化度进行监视的监视处理;存储器存取部,在接收所述写入指令的情况下,向所述存储器写入对成为写入对象的信息数据进行加密的加密数据、基于所述信息数据的错误检测用的第1编码及基于所述加密数据的错误检测用的第2编码,在接收所述读出指令的情况下或执行所述监视处理时,从所述存储器读出所述加密数据、所述第1编码及所述第2编码;解码部,通过对从所述存储器读出的所述加密数据进行解码而得到解除密码的读出数据;以及错误检测部,通过对所述读出数据及从所述存储器读出的所述第1编码实施错误检测处理而得到第1错误检测结果、或者通过对从所述存储器读出的所述加密数据及所述第2编码实施错误检测处理而得到第2错误检测结果,所述监视部在执行所述监视处理时使所述解码部的动作停止,并且基于所述第2错误检测结果求得所述恶化度。

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