[发明专利]一种连续生产卷状材料的良率预估方法有效

专利信息
申请号: 201810446415.X 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN108931529B 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 田霖;陈培灿;杨维平;陈雪弟;范若琪 申请(专利权)人: 深圳市盛波光电科技有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人: 张立娟
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 连续生产 材料 预估 方法
【权利要求书】:

1.一种连续生产卷状材料的良率预估方法,其特征在于:

包括如下步骤:

步骤1:AOI检测:使用AOI设备对每卷膜材进行非接触式、实时检测;

步骤2:提取AOI检测数据;

步骤3:数据预处理:解压AOI检测数据,提取数据表头,得到所需要的缺陷信息;

步骤4:数据的筛选:以实际片状成品检验标准为筛选条件,判断何种严重度Severity会在片状成品被判定为缺陷,何种缺陷Class会影响产品良率,筛选出此类Class及Severity待步骤5处理;

步骤5:数据的分块切割:通过程序,将卷状材料按照实际片状成品的切片尺寸、切片方向进行分块切割,做出分割图,与实际一一对应;

旋转平移转换,θ:切割方向与膜材幅宽方向的夹角:

平移转换:

在程序中设置卷材的切割尺寸、切割方向,程序处理完切割图待步骤6处理,卷材切割后剩余的边角料另作处理,故边角料区域不纳入良率统计;

其中,A:卷材幅宽;B:卷材卷长;a:边角料宽;b:边角料长;

步骤6:计算步骤5得到的切割图,预估良率=A÷(A+B),得到准确性高的预估良率;

此公式中,

若片状区域内有缺陷,则记为B品;

若片状区域内无缺陷,则记为A品;

A:切割块内所有A品的片数和;

B:切割块内所有B品的片数和;

A+B:模拟切割的总片数。

2.根据权利要求1所述的一种连续生产卷状材料的良率预估方法,其特征在于:步骤2具体如下:AOI检测过程会实时生成检测数据,数据包含各种缺陷信息,存储在AOI电脑,通过AOI参数设置,每卷的检测数据将在每卷生产完成后同步自动导出,并以压缩包格式存储在服务器中,提取服务器中的数据文件,得到材料的整卷数据,待步骤3处理。

3.根据权利要求1所述的一种连续生产卷状材料的良率预估方法,其特征在于:步骤3中,缺陷信息为:位置信息Md Pos、CdPos,缺陷的分类Class,缺陷的严重度Severity;

Md Pos(Machine direction Position):缺陷在膜材运动方向的位置;

CdPos(Cross direction Position):缺陷在垂直膜材运动方向的位置。

4.根据权利要求1所述的一种连续生产卷状材料的良率预估方法,其特征在于:步骤4中,建立一个筛选结果与实际片状成品数据匹配的数据库,根据匹配结果,优化筛选条件;随着数据量的叠加、数据相关性的提高,数据筛选的准确性会进一步提高。

5.根据权利要求1所述的一种连续生产卷状材料的良率预估方法,其特征在于:步骤6中,片状区域内有缺陷大于等于1个,则记为B品,若无缺陷则记为A品。

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