[发明专利]物体检测方法、系统、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种物体检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待测物体图像的第一特征点和模板图像的第二特征点，其中，所述第一特征点所表示的在待测物体上的位置与所述第二特征点所表示的在模板上的位置相同；

根据所述第一特征点和所述第二特征点获取透视变换矩阵；

根据所述变换矩阵将所述待测物体图像转换为待对比图像，并根据所述待对比图像与所述模板图像检测所述待测物体的缺陷。

2.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述第一特征点和所述第二特征点获取透视变换矩阵的步骤，包括以下步骤：

根据所述第一特征点和所述第二特征点建立透视变换等式；

根据所述透视变换等式求解所述透视变换矩阵。

3.根据权利要求2所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述第一特征点和所述第二特征点建立透视变换等式的步骤，包括以下步骤：

确定为所述第一特征点和所述第二特征点的变换关系，其中，i为所述待测物体上与所述模板上相同位置的序号，x_i和y_i分别为第i个第一特征点的横坐标和纵坐标，z_i满足z_i＝a₁₃u_i+a₂₃v_i+a₃₃，u_i和v_i分别为第i个第二特征点的横坐标和纵坐标，为所述透视变换矩阵，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分别为所述透视变换矩阵的元素；

根据所述变换关系获得和其中，和为所述透视变换等式，i为所述待测物体上与所述模板上相同位置的序号，x_i和y_i分别为第i个第一特征点的横坐标和纵坐标，u_i和v_i分别为第i个第二特征点的横坐标和纵坐标，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分别为所述透视变换矩阵的元素。

4.根据权利要求3所述的物体检测方法，其特征在于，在所述根据所述透视变换等式求解所述透视变换矩阵的步骤之后，还包括以下步骤：

根据获取使得ε值最小的透视变换矩阵，其中，i为所述待测物体上与所述模板上相同位置的序号，x_i和y_i分别为第i个第一特征点的横坐标和纵坐标，u_i和v_i分别为第i个第二特征点的横坐标和纵坐标，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分别为所述透视变换矩阵的元素。

5.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述根据所述变换矩阵将所述待测物体图像转换为待对比图像的步骤，包括以下步骤：

根据所述透视变换矩阵，将所述待测物体图像中像素点的坐标转换至所述待对比图像中像素点的坐标；

根据所述待测物体图像中像素点的灰度值和所述待对比图像中像素点的坐标，构建所述待对比图像。

6.根据权利要求1所述的物体检测方法，其特征在于，所述获取待测物体图像的第一特征点和模板图像的第二特征点的步骤，包括以下步骤：

根据所述待测物体图像获取第一角点，根据所述模板图像获取第二角点；

匹配所述第一角点和所述第二角点，并获取所述待测物体图像的第一特征点和所述模板图像的第二特征点。