[发明专利]一种电子元器件寿命检测装置有效
申请号: | 201810441915.4 | 申请日: | 2018-05-10 |
公开(公告)号: | CN108872758B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 於伟杰;李昊谦;范海洋;王匀;李瑞涛;许帧英;饶鹏;谭中锐;李富柱;陈士安;张超 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | G01R31/01 | 分类号: | G01R31/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元器件 压电陶瓷驱动电源 压电陶瓷驱动器 复位开关 金属片 交流电源模块 寿命检测装置 计数模块 检测电路 检测模块 使用寿命 形变 闭合 检测设备 交变电场 开关启闭 开启状态 电连接 工作台 并联 检测 元器件 串联 | ||
本发明涉及检测设备技术领域,提供了一种电子元器件寿命检测装置,包括工作台、检测模块、压电陶瓷驱动电源、交流电源模块和计数模块,检测模块包括压电陶瓷驱动器和并联于交流电源模块两端的两个相同的检测电路,检测电路由电子元器件和复位开关串联,复位开关分别位于压电陶瓷驱动器中的金属片的两侧,压电陶瓷驱动器与压电陶瓷驱动电源电连接,压电陶瓷驱动电源产生交变电场使得金属片产生振动形变,使位于金属片产生振动形变一侧的复位开关闭合,计数模块用于获得电子元器件的寿命。本发明可以检测电子元器件在不同开关启闭频率下的使用寿命,也可以检测元器件在开关频繁开启状态下的使用寿命。
技术领域
本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种电子元器件寿命检测装置。
背景技术
近年来,随着信息产业和电子技术飞速发展,电子元器件以其高集成、高性能、微型化等特点,在现在生活中发挥着不可替代的作用,智能化电子产业也逐渐取代传统的高能耗产品。为了保证电子元器件使用的稳定性,必须确保其具有较长的真实使用寿命以及优秀的性能。如何快速的检测、确定电子元器件的使用寿命,对生产厂商来说尤为重要,生产厂商可以依据电子元器件寿命的测试结果来提高产品的质量。但是,现有的技术中缺乏对电子元器件寿命控制及其检测装置,需要操作人员时刻留意电子元器件的使用情况,并且无法模拟电子元器件在频繁使用下的实际使用寿命。
发明内容
针对现有技术中存在不足,本发明提供了一种电子元器件寿命检测装置,可同时测量多个电子元器件的使用寿命。
本发明是通过以下技术手段实现上述技术目的的。
一种电子元器件寿命检测装置,其特征在于,包括工作台、检测模块、压电陶瓷驱动电源、交流电源模块和计数模块,所述检测模块包括压电陶瓷驱动器和并联于交流电源模块两端的两个相同的检测电路;
所述压电陶瓷驱动器安装于工作台上,所述压电陶瓷驱动器与压电陶瓷驱动电源电连接,所述压电陶瓷驱动电源产生交变电场使得压电陶瓷驱动器中的金属片产生振动形变;
所述检测电路由电子元器件和复位开关串联,两个所述复位开关分别位于金属片的两侧,所述金属片产生的振动形变能使位于金属片产生振动形变一侧的复位开关闭合;
所述计数模块用于计算两个检测电路的相邻两次断路间隔时间在设定值允许范围内的次数或者用于计算每个检测电路的通断次数,获得电子元器件的寿命。
优选地,用于计算两个检测电路的相邻两次断路间隔时间在设定值允许范围内的次数的所述计数模块包括计数器和电流检测装置,每个检测电路中均设有电流检测装置,所述电流检测装置串联在检测电路中,两个所述电流检测装置均与计数器电连接。
优选地,用于计算每个检测电路的通断次数的所述计数模块包括光电式传感器、控制模块和显示器,所述电子元器件为LED灯,每个电子元器件对应一个光电式传感器,所述光电式传感器安装于隔板上,并正对电子元器件,所述光电式传感器与控制模块电连接,所述控制模块与显示器电连接。
优选地,所述压电陶瓷驱动器包括支承座、金属片和对称设置在金属片的两侧面上的压电陶瓷片,所述压电陶瓷片的长度小于所述金属片的长度,所述压电陶瓷片与所述金属片紧密贴合并且靠近所述金属片的一端设置,所述压电陶瓷片和金属片的一端固定于支承座内,所述支承座通过螺钉固定于所述工作台上。
优选地,所述复位开关包括接触侧、拨动侧和弹簧,所述弹簧的一端固定设置,另一端与拨动侧固定连接,使得所述拨动侧和所述接触侧不接触,接触侧的引脚与水平面的夹角为θ,使金属片在到达最大振幅之前,拨动侧和接触侧接触。
优选地,所述检测模块的个数为多个,依次设置于工作台上。
优选地,所述检测模块的个数为多个,依次设置于工作台上,所述隔板设置在每两个检测模块之间,所述隔板由不透光材料制成。
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