[发明专利]一种电子产品外壳激光表面修复工艺

权利要求书

1.一种电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，

利用检测修复设备对电子产品进行检测修复；所述检测修复设备包括CCD相机、激光打标机、固定工位座；所述CCD相机和所述激光打标机安装在Z轴位移机构上，在Z轴位移机构的驱动下，沿竖直方向进行移动；所述固定工位座安装于运动驱动模组上；所述运动驱动模组包括X轴位移机构、Y轴位移机构、翻转机构和旋转机构；所述X轴位移机构和所述Y轴位移机构驱动所述固定工位座进行水平面内的运动；所述翻转机构驱动所述固定工位座做竖直平面内的翻转运动；所述旋转机构驱动所述固定工位座进行周向转动；

包括以下步骤：

步骤1，将待检测产品放置在固定工位座上，调节Z轴位移机构和运动驱动模组，调整所述CCD相机和所述激光打标机与固定工位座之间的距离；

步骤2，红外吸收程度可以帮助分辨金属和塑料，根据塑料条的形状，确定CCD相机的扫描路径；

步骤3，通过CCD相机获得待检测产品沿塑料条的表面图像；

步骤4，根据表面图像，获取检测灰度图像；

步骤5，对检测灰度图像进行缺陷检测，得到缺陷轮廓，根据缺陷轮廓，确定打标轮廓；

步骤6，通过激光打标机沿打标轮廓对待检测产品进行修复，修复颜色接近待检测产品的底色。

2.根据权利要求1所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，采用环形LED灯作为背景灯进行照射。

3.根据权利要求2所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，步骤4中，将所述表面图像进行灰度变换，得到初始灰度图像；对所述初始灰度图像进行傅立叶变换并卷积，再进行傅立叶逆变换，得到检测灰度图像。

4.根据权利要求3所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，采用阈值分割法计算所述检测灰度图像中的缺陷数据。

5.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，根据塑料条将待检测产品划分为多段区域，依次对每段区域进行检测和修复，直至完成整个检测修复过程。

6.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，调节翻转机构和旋转机构，使CCD相机扫描拍摄过程，始终垂直正对待检测产品的表面。

7.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，多次进行步骤1至步骤6，直至对检测灰度图像进行缺陷检测，无缺陷轮廓。

8.根据权利要求4所述的电子产品外壳激光表面修复工艺，其特征在于，所述CCD相机采用远心镜头，像素为1000W像素以上。