[发明专利]可扫描电路元件和选择可扫描电路元件的扫描模式的方法在审
申请号: | 201810430742.6 | 申请日: | 2018-05-08 |
公开(公告)号: | CN108957302A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 马修·贝尔津什 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185;G01R31/28 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 陈晓博;尹淑梅 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路元件 可扫描 操作模式 电力节点 数据路径 电压电位 模式控制信号 扫描模式 输出节点 输入节点 输入元件 扫描 信号路径 漏电流 响应 表现 | ||
提供了一种可扫描电路元件和一种选择可扫描电路元件的扫描模式的方法。所述可扫描电路元件包括分别响应于第一操作模式和第二操作模式而被选择的数据路径和扫描‑数据路径。所述扫描‑数据路径包括输入元件,所述输入元件具有输入节点、输出节点、第一电力节点和第二电力节点。位于输入节点与输出节点之间的信号路径是扫描‑数据路径的一部分。第一电力节点结合到第一电压电位,第二电力节点结合到模式控制信号,所述模式控制信号在第一操作模式下基本处于第一电压电位并且在第二操作模式下基本处于第二电压电位。在第二操作模式下,所述可扫描电路元件表现为没有切换电流并且没有漏电流。
本申请要求于2017年5月25日提交的第62/511,318号美国临时专利申请和2017年7月28日提交的第15/663,580号美国专利申请的优先权益,所述专利申请通过引用全部包含于此。
技术领域
这里公开的主题涉及可扫描电路。更具体地,这里公开的主题涉及用于减小可扫描电路的功耗和漏电流的一种系统和方法。
背景技术
扫描链测试是一种可测试性设计(DFT)技术,DFT技术将硬件组件嵌入集成电路(IC)设计中以检测IC中的制造故障。DFT组件的可测试性特征可以被配置为能够在可扫描模式(即,测试模式)下操作的时序逻辑路径内的时序元件(例如,触发器、锁存器等)。这样的DFT组件与IC的正常(非测试模式)操作无关,并且在IC的正常操作期间由于切换电流和/或漏电流而会浪费电力。
发明内容
实施例提供了一种可扫描电路元件,所述可扫描电路元件可以包括数据路径和扫描-数据路径。数据路径可以响应于第一操作模式而被选择。扫描-数据路径可以响应于第二操作模式而被选择,第二操作模式与第一操作模式互补。扫描-数据路径可以包括输入元件,输入元件可以具有输入节点、输出节点、第一电力节点和第二电力节点。位于输入元件的输入节点与输出节点之间的信号路径可以是扫描-数据路径的一部分。第一电力节点可以结合到第一电压电位,第二电力节点可以结合到模式控制信号,模式控制信号在第一操作模式下基本处于第一电压电位并且在第二操作模式下基本处于第二电压电位。第二电压电位可以不同于第一电压电位,第二电压电位可以对应于公共地电位。在第一操作模式下基本没有电流在输入元件中的第一电力节点与第二电力节点之间流动,在第二操作模式下电源电流在输入元件中的第一电力节点与第二电力节点之间流动。输入元件可以包括缓冲器、反相器、逻辑门或多路复用器。
实施例提供了一种可扫描电路元件,所述可扫描电路元件可以包括逻辑存储元件、数据路径和扫描-数据路径。逻辑存储元件可以包括输入。数据路径可以结合到逻辑存储元件的输入。数据路径可以响应于第一操作模式而被选择。扫描-数据路径可以结合到逻辑存储元件的输入。扫描-数据路径可以响应于第二操作模式而被选择,第二操作模式与第一操作模式互补。扫描-数据路径可以包括输入元件,输入元件可以具有输入节点、输出节点、第一电力节点和第二电力节点。位于输入元件的输入节点与输出节点之间的信号路径可以是扫描-数据路径的一部分。第一电力节点可以结合到第一电压电位,第二电力节点可以结合到模式控制信号,模式控制信号在第一操作模式下基本处于第一电压电位并且在第二操作模式下基本处于第二电压电位。第二电压电位可以不同于第一电压电位,第二电压电位可以对应于公共地电位。在第一操作模式下基本没有电流在输入元件中的第一电力节点与第二电力节点之间流动,在第二操作模式下电源电流在输入元件中的第一电力节点与第二电力节点之间流动。
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