[发明专利]一种薄型PLC晶圆与盖板粘接工艺在审
申请号: | 201810426523.0 | 申请日: | 2018-05-07 |
公开(公告)号: | CN110459480A | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 叶建国;陈文铨 | 申请(专利权)人: | 无锡天创光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52 |
代理公司: | 32262 无锡市朗高知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵华<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 214000江苏省无锡市新吴区菱*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶圆 粘接夹具 上盖 盖板 氰基丙烯酸酯 石英玻璃盖板 固定螺栓 降低生产 晶圆边缘 上定位孔 生产效率 胶水 不良品 曝光箱 有效地 注射器 刀片 薄型 底座 放入 耗材 拧紧 取下 粘接 固化 溢出 对准 扩散 曝光 观察 | ||
本发明提供一种薄型PLC晶圆与盖板粘接工艺,包括以下步骤:S1:把晶圆放置在粘接夹具的底座上;S2:将包括氰基丙烯酸酯分子的UV胶水通过注射器点在晶圆的正中间;S3:将1mm厚度的石英玻璃盖板轻轻盖在经过S2步骤的晶圆上;S4:将粘接夹具的上盖盖压在经过S3步骤的晶圆上,并且上盖需与粘接夹具上定位孔对准,并用力将粘接夹具周围的固定螺栓拧紧;S5:静置等待15min;S6:15min后观察盖板下方胶水是否扩散至晶圆边缘并溢出;S7:卸掉上盖,取下晶圆;S8:将晶圆放入曝光箱,通过15min的充分曝光,固化UV胶水。本发明能够有效地降低不良品、提高生产效率,并且能够减少刀片和晶圆的非正常损耗,同时能够降低生产耗材的用量。
技术领域
本发明主要涉及半导体领域,尤其涉及一种薄型PLC晶圆与盖板粘接工艺。
背景技术
由于旧型号的UV胶水在固化后的粘结强度不高,常规的PLC晶圆的盖板是1.5mm厚度的石英玻璃。由于晶圆整体厚度达到了2.5mm以上,用砂轮式切割机切割晶圆的时候,砂轮刀片受到的阻力很大,容易使加工件(芯片)的边缘产生崩塌,严重时会伤到波导。由于刀片受到的摩擦力较大,刀片在切割行进过程中,发热量大,从而使刀片的强度降低,当冷却水喷头调节出现位置偏离时,刀片的强度急剧降低而崩断刀片,断刀片在脱离晶圆过程中,容易导致切割线偏离、晶圆破损等问题。这些问题在业界长期存在,严重影响了生产效率和生产成本。
已公开中国发明专利,申请号CN201310175051.3,专利名称:一种PLC芯片的粘接方法,申请日:20130513,其公开了一种PLC芯片的粘接方法,包括以下步骤:将晶圆和盖板放置于晶圆粘接机的真空夹具上,确保其表面没有灰尘或无尘布碎屑;在晶圆上表面的中心点滴加胶水,待胶水自然扩散;将晶圆和盖板相互粘接,使胶水流向晶圆的边缘,并控制晶圆和盖板之间的胶水层厚度在30-50μm;通过UV灯照射进行初步固化;再放入烤箱内烘烤,进一步固化。本发明方法使整张晶圆直接与盖板进行粘接,大大简化了粘接过程,提高了PLC芯片的加工效率。
发明内容
本发明提供一种薄型PLC晶圆与盖板粘接工艺,针对现有技术的上述缺陷,提供一种薄型PLC晶圆与盖板粘接工艺,包括以下步骤:
S1:把晶圆放置在粘接夹具的底座上;
S2:将包括氰基丙烯酸酯分子的UV胶水通过注射器点在晶圆的正中间;
S3:将1mm厚度的石英玻璃盖板轻轻盖在经过S2步骤的晶圆上;
S4:将粘接夹具的上盖盖压在经过S3步骤的晶圆上,并且上盖需与粘接夹具上定位孔对准,并用力将粘接夹具周围的固定螺栓拧紧;
S5:静置等待15min;
S6:15min后观察盖板下方胶水是否扩散至晶圆边缘并溢出,如果溢出,进行下一步,未溢出,查出问题,增加胶量,调整上盖压力;
S7:卸掉上盖,取下晶圆;
S8:将晶圆放入曝光箱,通过15min的充分曝光,完成对UV胶水进行固化处理;
S9:通过上述步骤固化后的晶圆,放入全自动高精度切割机里切割。
优选的,经过粘接工艺后的石英玻璃盖板和晶圆的总厚度为2-2.05mm。
优选的,UV胶水固化后的硬度大于65。
优选的,UV胶水每次用量不低于2L。
优选的,UV胶水包括巯基化合物、氰基丙烯酸酯分子和增韧剂,所述增韧剂为橡胶或酸酐增韧剂。
优选的,切割机采用砂轮式切割机。
优选的,曝光箱的UV光强不低于0.075瓦。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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