[发明专利]一种单圈绝对编码器抗干扰及噪声的细分处理方法有效

专利信息
申请号: 201810425903.2 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN109029513B 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 袁鹏飞;雷仲魁;黄大庆 申请(专利权)人: 南京航空航天大学;南京晓庄学院
主分类号: G01D5/347 分类号: G01D5/347
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 施昊
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 抗干扰 刻画 单圈绝对编码器 脉冲中心 组分配 权重 噪声 矩阵 恶劣工况环境 电子经纬仪 噪声污染 测角仪器 矩阵分解 绝对编码 图像数据 整体测量 质心算法 编码盘 单码道 抗噪声 全站仪 构建 精密 观测
【权利要求书】:

1.一种单圈绝对编码器抗干扰及噪声的细分处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)CCD读头采集单圈绝对编码盘上刻画线组明暗条纹数据,并存入测量电路板中;

(2)根据选取的刻画线组明暗条纹数据,采用质心法计算每条刻画线中心位置信息,构建细分测量矩阵,并对该矩阵进行特征分解,求出各刻画线组的细分权重;该步骤的具体过程如下:

以编码盘物理中心点为原点O,检测线为纵轴建立平面直角坐标系,以检测线为中心往两侧各选取N个刻画线组,设CCD线阵与坐标系纵轴有一交点A,同时选取的各刻线组的中心线与CCD线阵的交点为Ei和E-i,i=1,2,…,N,“i”和“-i”分别表示检测线两侧的刻画线;采用质心法,根据下式计算出Ei和E-i的横坐标和

上式中,Pi为第i条刻画线像元的采样值,Gi为第i条刻画线像元在CCD中的位置编号;

设M为编码盘上的刻画线条数,当N<<M时,∠E-iOEi的对角线与CCD线阵的交点ei的横坐标由下式近似求出:

对任意第i个细分位置ei和第j个细分位置ej求解彼此的细分距离aij

令sij=1-aij,0≤sij<1,由N×N个sij构建细分测量矩阵S:

因为矩阵S正定,所以一定存在一个最大模特证值|λ|max及其对应的特征向量ξ=(ζ1,...,ζN),使得:

|λ|maxξ=STξ

将上式展开,得:|λ|maxζi=ζ1s1i2s2i+...+ζNsNi,i=1,...,N,则细分权重αi

(3)根据细分权重计算出细分值,具体过程如下:

根据细分权重αi计算细分位置E的横坐标XE

根据细分权重αi计算细分角θ:

上式中,XA为CCD线阵与坐标系纵轴交点A的横坐标,η为刻画线夹角,L为以像素为单位的刻画线平均间距。

2.根据权利要求1所述单圈绝对编码器抗干扰及噪声的细分处理方法,其特征在于,由下式计算刻画线夹角η、刻画线平均间距φ以及以像素为单位的刻画线平均间距L:

上式中,D为编码盘刻画线中径,W为CCD像元宽度。

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