[发明专利]内部集成电路电阻校准

权利要求书

1.一种使用激励电流来测量目标电阻器的集成电路IC电阻值的方法，其特征在于，所述激励电流在到达所述目标电阻器之前经历外部传感器泄漏电流或其他泄漏电流而降低，所述方法包括：

响应于施加到具有指定校准电阻值的校准电阻器的不同的第一指定激励电压和第二指定激励电压而产生不同的第一激励电流和第二激励电流；

分别响应于相应的不同的第一激励电流和第二激励电流测量在所述目标电阻器上的不同的第一响应电压和第二响应电压；和

使用测量的第一响应电压和第二响应电压之间的差值、第一指定激励电压和第二指定激励电压之间的差值以及所述指定校准电阻值来确定所述目标电阻器的集成电路电阻值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述方法还包括校准目标电阻器的集成电阻值，包括使用目标电阻器的确定的集成电阻值来调整目标电阻器的集成电阻值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，校准集成电阻值包括产生、测量和确定的一个或多个进一步的相互作用。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一指定激励电压和第二指定激励电压包括一个或多个指定频率。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标电阻器耦合到集成电路IC的外部的传感器，其中所述一个或多个指定频率高于传感器对由传感器感测的参数的标称频率响应。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标电阻器包括将电压感测节点耦合到放大器电路的放大器输入的第一电阻器组件以及将所述放大器电路的放大器输出馈送到所述放大器输入的第二电阻器组件，所述方法还包括相对于第二电阻器组件的电阻值改变第一电阻器组件的电阻值。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，传感器的感测电极SE耦合到所述目标电阻器，该方法还包括浮置传感器的参考电极RE和反电极CE。

8.一种传感器接口集成电路IC，其特征在于，该传感器接口集成电路IC用于使用激励电流来测量目标电阻器的电阻值，所述激励电流经历耦合到集成电路IC的传感器的外部传感器泄漏电流而降低，所述传感器接口集成电路IC包括：

电流传感器电路，包括用于感测所述传感器产生的响应电流的至少一个目标电阻器；和

电阻值测量电路，与所述目标电阻器耦合以测量所述目标电阻器的电阻值，所述电阻值测量电路包括：

电压激励电路，用于将一个或多个指定激励电压施加到具有指定校准电阻值的校准电阻器，以响应地针对每个指定激励电压产生不同的相应激励电流；

电压测量电路，响应于每个相应的不同激励电流分别测量所述目标电阻器上的不同的相应响应电压；和

计算电路，使用测量的不同的相应响应电压之间的差值、所述一个或多个指定激励电压之间的差值以及所述指定校准电阻值来确定所述目标电阻器的电阻值。

9.根据权利要求8所述的传感器接口集成电路IC，其特征在于还包括连接到所述目标电阻器的传感器，其中所述传感器位于所述传感器接口集成电路IC的外部。

10.根据权利要求9所述的传感器接口集成电路IC，其特征在于，所述传感器还耦合到所述校准电阻器。

11.根据权利要求8所述的传感器接口集成电路IC，其特征在于，所述电压测量电路包括模数转换器，用于为所述计算电路产生测量的相应响应电压的数字表示。

12.根据权利要求8所述的传感器接口集成电路IC，其特征在于，所述校准电阻器在外部耦合到所述传感器接口集成电路IC。

13.根据权利要求8所述的传感器接口集成电路IC，其特征在于，所述计算电路被配置为执行直流DC测量和交流AC测量。