[发明专利]一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法

权利要求书

1.一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法，其特征在于：配制实验所需的试剂；并采集配制而成络合物的紫外漫反射光谱，确定铜离子的最佳紫外可见吸收波长点；采用控制变量的方法对测试条件(pH、PAN的用量、反应时间和样品用量)进行优化；建立痕量铜离子检测的工作曲线，得到Cu²⁺的检出限，对未知样品预测。

2.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的pH的优化过程为：在其他条件一定的情况下(Cu²⁺浓度为6μg/L，PAN用量2.0mL，样品用量100mL，反应时间10min)，用Tris-HCl缓冲溶液调节溶液的pH值，用pH计测量pH分别为4.3、6、7、7.5、8、8.5、9、9.5时，测量络合物Cu-PAN的吸光度，吸光度的最大值对应的pH为最佳pH。

3.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的PAN用量的优化过程为：在pH最佳，其他条件一定的情况下(Cu²⁺浓度为6μg/L，样品用量100mL，反应时间10min)，测量PAN溶液在0.2-1.4mL范围内7种不同的加入量对Cu-PAN吸光度。吸光度的最大值对应的PAN用量为最佳用量。

4.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的反应时间的优化过程为：在pH、PAN用量最佳，其他条件一定的情况下(Cu²⁺浓度为6μg/L，样品用量100mL)，考察不同反应时间(2、5、7、12、15、20min)下络合物Cu-PAN的吸光度。吸光度的最大值对应的PAN用量为最佳络合物用量。

5.根据权利要求1所述的一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的痕量水中铜离子定量分析方法，其特征在于：所述的样品用量的优化过程为：在pH、PAN用量、反应时间最佳条件下，考察6μg/L Cu²⁺标准溶液的不同样品体积(25、50、75、100、125、150mL)下络合物Cu-PAN的吸光度。吸光度的最大值对应的样品用量为最佳样品用量。