[发明专利]光学检测设备

说明书

本发明提供一种光学检测设备用以检测放置于工作平面上的待测物。光学检测设备包括载架、图像获取元件、旋转载盘、第一光源以及第二光源。图像获取元件与旋转载盘设置于载架上。图像获取元件具有光轴，且光轴延伸通过待测物。第一光源与第二光源分别设置于旋转载盘的相对两侧。旋转载盘配置用以依轴线相对于载架旋转以切换第一光源与第二光源的方位。因此，无须拆装光源，并且不会对光线的投射角度造成影响，因而便于使用且具有极佳的可靠度。

技术领域

本发明涉及一种检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。

背景技术

为提高自动化生产的效率，自动光学检测(Automated Optical Inspection)已广泛地应用于面板、电路板、晶圆、发光二极管或封装测试等相关产业，其可通过高速度、高精确度的光学图像检测系统取得待测物的图像，以进行瑕疵判断、定位量测、尺寸量测或几何量测等，取代传统以人力使用光学仪器来进行检测的方式。

因应检测需求，自动光学检测设备大多设有至少两种光源，分别对待测物进行打光，例如以同轴光源对待测物进行同轴打光(coaxial lighting)，或者是以侧光源对待测物进行斜向打光(Oblique lighting)。进一步而言，侧光源可采用可见光源或不可见光源(例如红外光和/或紫外光)，实务上，在替换侧光源的过程中，使用者需先将原有的侧光源自机台拆解下来，接着将另一侧光源组装至机台，不仅拆装耗时，也会影响到侧光源的打光角度。

发明内容

本发明提供一种光学检测设备，具有极佳的使用便利性与可靠度。

本发明的光学检测设备用以检测放置于工作平面上的待测物。光学检测设备包括载架、图像获取元件、旋转载盘、第一光源以及第二光源。图像获取元件设置于载架上。图像获取元件具有光轴，且光轴延伸通过待测物。旋转载盘设置于载架上，且位于图像获取元件的一侧。第一光源配置用以发出第一光线。第二光源与第一光源分别设置于旋转载盘的相对两侧，且配置用以发出第二光线。旋转载盘配置用以依轴线相对于载架旋转而使第一光源的第一光线或第二光源的第二光线射向待测物，且轴线与光轴相交。

基于上述，本发明的光学检测设备能通过旋转载盘切换第一光源与第二光源的方位，使第一光源与第二光源的其中一者朝向分光元件，不仅能免去拆装替换光源的程序，也能避免影响到光线的投射角度，因而具有极佳的使用便利性与可靠度。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明一实施例的光学检测设备的示意图。

图2是图1的旋转载盘旋转后的示意图。

附图标记说明

10：工作平面；

20：待测物；

100：光学检测设备；

110：载架；

120：分光元件；

121：第一表面；

122：第二表面；

130：图像获取元件；

131：光轴；

132：感光元件；

133：镜头；

140：旋转载盘；

141：轴线；

142：座部；

143：承载部；

150：第一光源；

151：第一光线；