[发明专利]用以检测数据储存装置的数据储存方法及其数据储存装置

说明书

本发明涉及一种数据储存方法及其数据储存装置，具有一快闪存储器以及一控制器。快闪存储器包括多个储存矩阵，这些储存矩阵的每一者包括多个区块，这些多区块的每一者包括多个页面，并且这些页面的每一者的大小为N个K字节组(K bytes)，N为大于1的正整数。控制器耦接该快闪存储器，以1K字节组为检测单位，计算该每一页面的错误校正码位元数，并且统计当该错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的这些页面的这些检测单位的数量，以分别判断该快闪存储器的该每一储存矩阵是否正常。

技术领域

本发明有关于一用以检测数据储存装置的数据储存方法及其数据储存装置，特别有关于一种藉由统计方法，计算错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的数量的数据储存装置与数据储存方法。

背景技术

快闪存储器为一种普遍的非挥发性数据储存装置，以电性方式抹除与程序化。以与非门型的快闪存储器(NAND FLASH)为例，常用作记忆卡(memory card)、通用串行总线闪存装置(USB flash device)、固态硬碟(SSD)、嵌入式快闪存储器模组(eMMC)、通用快闪存储器(UFS)…等使用。

由于快闪存储器具有许多数据区块，而这些数据区块可能会因为长时间的使用而发生损毁，造成数据无法正常写入或读取。因此，需要一种能够有效率数据储存方法，能够快速方便的检测数据储存装置为正常或损毁，以确保数据存取的效能与可靠度。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出一种用以检测数据储存装置的数据储存方法及其数据储存装置，能够统计当错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的多个页面的检测单位的数量。藉由判断上述数量是否超出一比例数值，而能检测出数据储存装置是否发生损毁。此外，本发明以表格针对上述数量或其比例进行记录，避免占用太多存储器空间，以有效确保数据存取的效能与可靠度。

本发明的一实施例提供了一种数据储存装置，具有一快闪存储器以及一控制器。快闪存储器包括多个储存矩阵(plane)，并且储存矩阵的每一者包括多个区块(block)，这些多区块的每一者包括多个页面，并且这些页面的每一者的大小为N个K字节组，N为大于1的正整数。控制器耦接该快闪存储器，以1K字节组为检测单位，计算该每一页面的错误校正码(ECC)位元数，并且统计当该错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的这些页面的这些检测单位的数量，以分别判断该快闪存储器的该每一储存矩阵是否正常。

本发明的一实施例提供了一种用于优化数据储存装置的数据储存方法，数据储存装置具有一快闪存储器以及一控制器，其中快闪存储器包括多个储存矩阵，并且储存矩阵的每一者包括多个区块，这些多区块的每一者包括多个页面，并且这些页面的每一者的大小为N个K字节组，N为大于1的正整数。数据储存方法包括：以1K字节组为检测单位，计算该每一页面的错误校正码(ECC)位元数；统计当该错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的这些页面的这些检测单位的数量，以分别判断该快闪存储器的该每一储存矩阵是否正常。

关于本发明其他附加的特征与优点，此领域的熟悉本技术领域者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可根据本案实施方法中所揭示的数据储存装置与数据储存方法。

附图说明

根据以下的详细说明并配合附图做完整揭示。应注意的是，根据本产业的一般作业，图示并未必按照比例绘制。事实上，可能任意的放大或缩小元件的尺寸，以做清楚的说明。

图1显示了根据本发明一实施例所述的数据储存装置与主机的示意图；

图2显示了根据本发明一实施例所述的错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的数量的统计图；

图3显示了根据本发明另一实施例所述的错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的数量的统计图；

图4显示了根据本发明另一实施例所述的错误校正码位元数为不同数值时所分别对应的数量的统计图；