[发明专利]一种基于向量压缩的低功耗测试压缩方法和系统、CLFSR

说明书

本发明公开了一种基于向量压缩的低功耗测试压缩方法和系统、CLFSR，该方法建立扫描森林；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中；对被激活的扫描链子集置入测试信号；根据本原多项式和注入的附加变量对CLFSR中的全部的确定向量进行编码，并生成种子及附加变量的值；对测试向量进行压缩；根据压缩后的测试向量进行测试，计算得到测试响应结果。本发明能够有效地把低功耗LOC延迟测试和确定的BIST结合在一起，且硬件开销低，更不会带来额外的延迟开销、结构简单、便于工业界广泛使用，易于嵌入现有的EDA工具中，能够支持伪随机测试和确定自测试，也可独立用于确定测试压缩。

技术领域

本发明实施例涉及集成电路延迟测试可测试性技术领域，尤其是涉及一种基于向量压缩的低功耗测试压缩方法和系统、CLFSR。

背景技术

随着电路规模的增大，测试功能和测试能耗之间的差距变得越来越大。现在，电路的功能越来越复杂，芯片过热的问题也显现出来，芯片过热会导致产品寿命的缩短。但是，目前由于随机码交换活动的增多，现在的测试比之前的扫描测试需要更大的功耗。

最近的研究方法主要是针对通过允许自动选择低功耗的伪随机测试模式来减少扫描切换的开关活动。然而，很多以前的低功耗自测试方法可能会导致故障覆盖率降低。因此，获取较高的故障覆盖率在低功耗自测试方案中也是非常重要的。加权伪随机测试模型可以有效地提高故障股概率，但是这些方法由于频繁的对触发器的扫描，通常会导致更多的能耗。此外，大部分之前的确定自测试方法都没有关注过低功耗的问题。

在实现本发明实施例的过程中，发明人发现现有的对芯片进行测试的方法硬件开销大，与设计和测试流程的吻合程度低，此外，现有的CLFSR不能够连接任何不同级及任何级数相同的本原多项式，应用范围较小。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是如何解决现有的现有的多模干涉耦合器需要依靠加热器控制光的输出，能耗较高，且热扩散会影响其他外围器件的问题。

针对以上技术问题，本发明的实施例提供了一种基于向量压缩的低功耗测试压缩方法，包括：

构建扫描森林，所述扫描森林包括将与预先构建的CLFSR的输出连接到相移器，相移器的每一级驱动一个多路输出选择器，且每个所述多路输出选择器均用于驱动多个扫描树，每个扫描树中均包括多个扫描链；

将由多路输出选择器同一位置的输出端驱动的扫描树置于同一扫描链子集中，同一扫描链子集中的全部扫描链均由相同的时钟信号驱动；

基于所述扫描森林生成测试向量，根据所述测试向量集生成编码所有测试向量的本原多项式和附加变量的数量的预设上限值，并根据本原多项式产生控制CLFSR的控制向量，根据本原多项式和附加变量对由所述控制向量选定的CLFSR中的所有测试向量进行编码，生成对应于每一测试向量的编码种子；

根据LOC延迟测试，每次通过由所述控制向量选定的CLFSR，将编码种子和附加变量置入被门控逻辑激活的扫描链子集中的每一扫描链中，将对应于每一扫描链的测试响应传输到MISR中压缩，直到遍历所有扫描链子集。

本发明提供了一种以上所述的CLFSR，包括由n个D触发器顺序相连，每一级D触发器对应一个二输入的多路选择器，多路选择器的控制输入由附加寄存器相应位控制，多路选择器的一个输入连接到对应的D触发器的输出，另一输入连接到一个常量；

当多路选择器的控制输入置为1时，其输出选择D触发器的输出，当多路选择器的控制输入置为0时，其输出选择D常数0。

本发明提供了一种以上所述的CLFSR，所述CLFSR的每一级对应一个二输入AND门，一个输入与附加寄存器的相应位相连，另一位与CLFSR相应D触发器的输出相连；