[发明专利]光学元件检测方法和装置、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种光学元件检测方法，所述方法包括：

获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；

根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域，所述零级区域为亮度最大的区域；

检测所述零级区域的散斑点亮度均值；

当所述散斑点亮度均值超过预设亮度值时，则判定所述光学元件异常。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取散斑图，所述散斑图是激光摄像头采集的激光通过光学元件后照射到物体上所形成的图像，包括：

获取根据预设的曝光时间和激光电流采集的散斑图。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域，包括：

采用预设大小的定位框在所述散斑图的预设区域内遍历；

将亮度值最大的定位框所在的区域作为所述散斑图的零级区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域，包括：

获取散斑图在预设区域内的亮度值；

缩小预设区域，并获取缩小后的预设区域的亮度值；

当所述缩小后的预设区域的亮度值与相邻上一次预设区域的亮度值差值小于预设阈值时，将所述缩小后的预设区域作为所述散斑图的零级区域。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测所述零级区域的散斑点亮度均值，包括：

提取所述零级区域的散斑点；

检测所述零级区域的散斑点的亮度；

根据所述散斑点的亮度计算所述零级区域的散斑点亮度均值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当判定所述光学元件异常时，将所述光学元件的异常次数增加1。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述光学元件的异常次数大于预设次数时，禁止所述投射器的使用。

8.一种光学元件检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图像获取模块，用于获取散斑图，所述散斑图是激光摄像头采集的激光通过光学元件后照射到物体上所形成的图像；

零级区域获取模块，用于根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域，所述零级区域为亮度最大的区域；

检测模块，用于检测所述零级区域的散斑点亮度均值；

判定模块，当所述散斑点亮度均值超过预设亮度值时，则判定所述光学元件异常。

9.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。