[发明专利]相位图的滤波评价方法

权利要求书

1.一种相位图的滤波评价方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

S1、确定平滑样条拟合公式，其中，所述平滑样条拟合公式包括平滑参数和平滑样条拟合函数；确定所述平滑参数的取值，并确定平滑样条拟合公式取值最小时的平滑样条拟合函数，得到目标平滑样条拟合函数；其中，所述目标平滑样条拟合函数包括自变量和因变量，所述自变量为像素点的横坐标，所述因变量为对应像素点的灰度值的预测值；

所述平滑样条拟合公式为：

式中，p表示所述平滑参数，y_i表示像素点i的灰度值，w_i表示像素点i的权重，s表示所述平滑样条拟合函数，x_i表示像素点i的横坐标，x表示所述平滑样条拟合函数的横坐标；

S2、获取待测物体的包裹相位图，并对所述包裹相位图进行相位滤波处理；

S3、获取滤波处理后的包裹相位图中预定区域内的像素点的灰度值；

S4、以所述预定区域内的像素点的横坐标为所述目标平滑样条拟合函数的自变量进行运算，得到所述预定区域内每个像素点的灰度值的预测值；根据所述预定区域内每个像素点的灰度值和每个像素点的灰度值的预测值，确定所述预定区域灰度值的均方根误差；

S5、对所述包裹相位图进行相位滤波处理；

S6、重复执行步骤S3和S4，得到新的均方根误差，计算新的均方根误差与上一次执行步骤S3和S4得到的均方根误差的差值，并在所述差值大于或等于预定值的情况下，返回步骤S5。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括如下步骤：

获取滤波处理后的包裹相位图中预定区域内的像素点的横坐标。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法利用如下公式计算所述均方根误差：

式中，RMSE表示所述均方根误差，n表示所述预定区域内的像素点的个数，y_i表示所述预定区域内的像素点的灰度值，y表示所述预定区域内的像素点的灰度值的预测值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述平滑样条拟合函数为：

s＝f(x,y)

式中，x表示所述预定区域内的像素点的横坐标，y表示所述预定区域内的像素点的灰度值的预测值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定区域为所述包裹相位图的任意一个或两个对角线。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定值大于或等于0.5，并且所述预定值小于或等于1。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述平滑参数大于0，并且小于或等于1。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括如下步骤：

S7、在所述差值小于所述预定值的情况下，对滤波后的包裹相位图进行解包处理。