[发明专利]支持使用不同应用的多个用户的测试系统

说明书

本公开涉及支持使用不同应用的多个用户的测试系统。公开了一种用于执行自动化测试的系统。该系统包括第一用户计算机和第二用户计算机，第一用户计算机可操作用于将来自第一用户的第一测试计划加载到控制服务器，第二用户计算机可操作用于将来自第二用户的第二测试计划加载到控制服务器。该系统还包括测试器，该测试器包括用于部署多个基元的至少一个机架。控制服务器通信地耦合到第一用户计算机、第二用户计算机和测试器，其中控制服务器可操作用于将第一基元子集分配给第一测试计划并且管理第一测试计划在第一基元子集上的执行，并且还可操作用于同时将第二基元子集分配给第二测试计划并且管理第二测试计划在第二基元子集上的执行。

相关申请的交叉引用

本申请涉及于2017年4月28日提交的、序列号为15/582,316、题为 “测试程序流程控制(TEST PROGRAM FLOW CONTROL)”的美国专 利申请(发明人为Rotem Nahum、RebeccaToy、Boilam Pham、Kevin Liu 和Leon Chen，并且代理人案号为ATSY-0054-01.01US)。该美国专利申 请出于所有目的通过引用以其整体合并于此。

技术领域

本公开一般地涉及自动化测试设备领域，并且更具体地涉及控制这类 设备的技术。

背景技术

自动化测试设备(ATE)可以是对半导体晶圆或芯片、集成电路 (IC)、电路板、或封装设备(例如，固态驱动器)执行测试的任意测试 装备。ATE装备可以被用来执行自动化测试，该自动化测试快速执行测量 并且生成可以随后进行分析的测试结果。ATE装备可以是从耦合到仪表的 计算机系统到复杂的自动化测试装备(可以包括定制的专用计算机控制系 统和能够自动地测试电子部件和/或半导体晶圆测试(例如，片上系统 (SOC)测试或集成电路测试)的许多不同测试器器件)的任意装备。 ATE系统减少了测试设备以确保设备按设计运行所花费的时间，并且作为 诊断工具以在给定设备到达消费者之前确定该给定设备是否存在有故障的 组件。

在典型的ATE系统测试设备(通常称为被测设备或DUT)时，ATE 系统将激励(例如，电信号)应用到设备并且检查设备的响应(例如，电 流和电压)。通常，如果设备成功提供预先建立的容忍度内的某些预期响 应，则测试的最终结果为“通过”，或如果设备没有提供预先建立的容忍 度内的预期响应，则测试的最终结果为“失败”。更复杂的ATE系统能够 评估故障设备，从而潜在地确定故障的一个或多个原因。

ATE系统通常包括引导ATE系统的操作的计算机。通常，计算机运 行一个或多个专用软件程序以提供(i)测试开发环境和(ii)设备测试环 境。在测试开发环境中，用户通常创建测试程序，例如，控制ATE系统的 各个部分的一个或多个文件的基于软件的构造。在设备测试环境中，用户 通常向ATE系统提供一个或多个设备以用于进行测试，并且引导ATE系统根据测试程序来测试每个设备。用户可以通过以下方式来测试附加设备： 简单地将附加设备提供给ATE系统，并且引导ATE系统根据测试程序来 测试附加设备。因此，ATE系统使得用户能够基于测试程序以一致并且自 动化的方式来测试多个设备。

在典型的现有技术测试环境中，DUT被放置在受控环境舱室或“机箱 (oven)”中。DUT连接到测试头的切片。多个DUT可以连接到单个切 片，单个测试舱室可以包括多个切片。切片包括根据测试计划对DUT执 行测试的测试电路。在机箱中时，DUT不能被用户访问，以免干扰舱室的 受控环境。多个切片通常在锁定步骤中在多个DUT上执行相同的测试计划。此外，测试头通常由单个控制器计算机系统来控制，该单个控制器计 算机系统直接连接到测试头，并且以这种方式控制测试头的所有切片。控 制器计算机通常由对DUT执行单个测试计划的单个用户来操作。