[发明专利]显示屏点灯参数调整方法、电路和显示屏测试设备有效

专利信息
申请号: 201810386320.3 申请日: 2018-04-26
公开(公告)号: CN108573665B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 郑敏栋;李佑路 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 显示屏 点灯 参数 调整 方法 电路 测试 设备
【说明书】:

发明提出一种显示屏点灯参数调整方法、电路和显示屏测试设备,其中,方法包括:在当前的显示屏配置参数下,检测显示屏显示测试画面时,当前的子像素阵列是否正常,若当前的子像素阵列正常,则判断显示屏当前是否处于黑屏状态,若显示屏未处于黑屏状态,则调整当前的显示屏配置参数。该方法在点屏测试过程中,根据当前的显示屏配置参数下,测试画面的子像素阵列的显示情况,自动调整显示屏配置参数,从而提高了点屏测试速度,缩短了点屏测试时间,大大提高了显示屏开发测试和生产效率。

技术领域

本发明涉及显示屏技术领域,尤其涉及一种显示屏点灯参数调整方法、电路和显示屏测试设备。

背景技术

在显示屏开发测试和生产阶段都需要进行点屏测试。随着显示屏技术的发展,显示屏的等级越来越高,显示屏点亮的难度也在增加,特别是对点亮效果的调整上难度更大。

由于点亮显示屏涉及到许多参数,而这些参数之间又有一定关联,所以点屏测试时,调整显示屏配置参数的过程较长,点屏测试速度较慢,耗时长,从而降低了显示屏的开发测试和生产效率。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

本发明提出一种显示屏点灯参数调整方法,在点屏测试过程中,根据当前的显示屏配置参数下,测试画面的子像素阵列的显示情况,自动调整显示屏配置参数,从而提高了点屏测试速度,缩短了点屏测试时间,大大提高了显示屏开发测试和生产效率。

本发明一方面实施例提出了一种方法,包括:

在当前的显示屏配置参数下,检测显示屏显示测试画面时,当前的子像素阵列是否正常;

若否,则判断显示屏当前是否处于黑屏状态;

若所述显示屏当前未处于黑屏状态,则调整当前的显示屏配置参数。

作为本发明一方面实施例一种可能的实现方式,所述调整当前的显示屏配置参数,包括:

根据子像素阵列与错误显示屏配置参数类型映射关系,确定与当前的子像素阵列对应的当前错误显示屏配置参数类型;

根据所述当前错误显示屏配置参数类型,调整当前的显示屏配置参数。

作为本发明一方面实施例一种可能的实现方式,所述调整当前的显示屏配置参数,包括:

根据各显示屏配置参数分别对应的取值范围,逐一调整各显示屏配置参数;

直至显示屏配置参数调整后,检测的显示屏的子像素阵列正常。

作为本发明一方面实施例一种可能的实现方式,检测显示屏显示测试画面时,当前的子像素阵列是否正常,包括:

根据所述测试画面,确定目标子像素阵列;

检测显示屏当前的子像素阵列是否与目标子像素阵列匹配。

作为本发明一方面实施例一种可能的实现方式,所述判断显示屏当前是否处于黑屏状态之后,还包括:

若显示屏当前处于黑屏状态,则判断所述显示屏当前的亮度值是否为零;

若显示屏当前的亮度值为零,则输出背光异常提示。

作为本发明一方面实施例一种可能的实现方式,所述判断显示屏当前是否处于黑屏状态之后,还包括:

若显示屏当前处于黑屏状态,则判断当前的亮度值是否在第一范围内;

若当前的亮度值在第一范围内,则判断显示屏当前的驱动电流值是否在第二范围内;

若显示屏当前的驱动电流值在第二范围内,则输出驱动线异常提示;

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