[发明专利]微指令序列的测试方法与系统

权利要求书

1.微指令序列的测试方法，包括：

生成测试微指令序列的激励；

获取微指令序列的执行轨迹；

从执行轨迹中提取同所述微指令序列可能的执行路径匹配的执行路径作为被覆盖的执行路径；

累计从执行轨迹中提取的多个被覆盖的执行路径，得到执行路径覆盖率；

其中，获取的微指令序列的执行轨迹包括获取按执行顺序的微指令地址序列；

根据微指令序列生成有向图，其中所述有向图包括节点和节点之间的边，节点指示微指令或者微指令所对应的存储器地址，节点之间的边指示了节点所对应的微指令的执行顺序；遍历有向图，获取从有向图的根节点到叶节点的所有可能的执行路径，作为微指令序列所有可能的执行路径；

从执行轨迹中获取同有向图的根节点对应的地址相同的第一存储器地址，从执行轨迹中获取第一存储器地址后续的第二存储器地址，从所有可能的执行路径中搜索同有向图的根节点对应的下一节点对应的地址同第二存储器地址相同的一个或多个执行路径，作为候选执行路径，直到从执行轨迹获取的后续存储器地址，同候选执行路径之一的对应于叶节点的地址相同，以得到匹配的执行路径。

2.一种存储控制器执行的微指令序列的测试方法，包括：

生成访问NVM芯片的一个或多个命令作为测试微指令序列的激励；

获取微指令序列的执行轨迹以及同执行轨迹对应的逻辑单元；

根据执行轨迹对应的逻辑单元将执行轨迹分组；

从各组执行轨迹中提取同所述微指令序列可能的执行路径匹配的执行路径作为被覆盖的执行路径；

累计从每组执行轨迹中提取的多个被覆盖的执行路径，得到所有被覆盖的执行路径，通过所有被覆盖的执行路径与所有可能的执行路径之比，得到执行路径覆盖率；

其中，获取微指令序列的执行轨迹包括获取按执行顺序的微指令地址序列，以及同每个微指令地址相关联的执行该微指令所访问的逻辑单元标识；

根据微指令序列生成有向图，其中所述有向图包括节点和节点之间的边，节点指示微指令或者微指令所对应的存储器地址，节点之间的边指示了节点所对应的微指令的执行顺序；遍历有向图，获取从有向图的根节点到叶节点的所有可能的执行路径，作为微指令序列所有可能的执行路径；

从执行轨迹中获取同有向图的根节点对应的地址相同的第一存储器地址，从执行轨迹中获取第一存储器地址后续的第二存储器地址，从所有可能的执行路径中搜索同有向图的根节点对应的下一节点对应的地址同第二存储器地址相同的一个或多个执行路径，作为候选执行路径，直到从执行轨迹获取的后续存储器地址，同候选执行路径之一的对应于叶节点的地址相同，以得到匹配的执行路径。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括：

若执行路径覆盖率未达到指定阈值，根据所有可能的执行路径中尚未被覆盖的执行路径生成第二激励，使得执行被测试的微指令序列以处理同生成的第二激励对应的命令时，执行被测试的微指令序列的所述尚未被覆盖的执行路径。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其中

访问不同逻辑单元的作为激励的多个命令，被并发地执行。

5.根据权利要求2或3之一所述的方法，其中

随机地生成访问NVM芯片的多个命令作为测试微指令序列的激励。

6.根据权利要求5所述的方法，其中

通过指定生成的多种类型的命令的每种类型的频度与顺序，和/或应用于所生成的命令的一个或多个约束条件而随机地生成访问NVM芯片的多个命令作为测试微指令序列的激励。