[发明专利]一种环境应力筛选时间优化方法及设备有效

专利信息
申请号: 201810374832.8 申请日: 2018-04-24
公开(公告)号: CN108564224B 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 刘文杰;金健;张航军 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06Q10/00;G06F30/27;G06F111/06;G06F119/02;G06F119/14
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 尚威;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 环境 应力 筛选 时间 优化 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种电子产品环境应力筛选时间优化方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:基于威布尔分布参数获得元器件和连接件的可靠度函数、应力筛选加速因子、合格品次品比例,进而得到元器件在经过一段时间筛选后的可靠度函数和合格品次品比例,以及连接件在经过一段时间筛选后的可靠度函数和合格品次品比例;

步骤2:根据步骤1的筛选结果估算在电子产品组件保修期内寿命周期各阶段的元器件更换数量以及连接件维修数量;

步骤3:根据步骤2所估算的元器件更换数量和连接件维修数量,结合在电子产品组件保修期内寿命周期各阶段中元器件的更换费用和连接件的维修费用,建立电子产品组件在保修期内寿命周期的总费用模型:

总费用=元器件的更换费用+连接件的维修费用;

步骤4:以元器件级筛选时间和组件级筛选时间作为变量,以组件在保修期内寿命周期的总费用最少为目标,使用粒子群算法求解步骤3的总费用模型的最优解,得到最优解对应的元器件级筛选时间和组件级筛选时间。

2.如权利要求1所述的一种电子产品环境应力筛选时间优化方法,其特征在于,步骤1中,建立元器件级筛选模型的方法如下:

经过一段时间的筛选后,整批元器件中次品比例Pcss(tc)和合格品的比例Pcg(tc)分别为:

Pcg(tc)=1-Pcss(tc) (4)

其中,Pcss、Pcg分别为初始时元器件中次品和合格品所占比例,

βcss、βcg分别为元器件次品和合格品威布尔分布的形状参数,

ηcss、ηcg分别为元器件次品和合格品威布尔分布的比例参数,

tc为环境应力对元器件寿命损耗产生的元器件级筛选时间加速效果,

tac为元器件级筛选时间:

tc=Kc·tac (5)

Kc为元器件级筛选的加速因子。

3.如权利要求2所述的一种电子产品环境应力筛选时间优化方法,其特征在于,步骤2中,估算元器件更换数量的方法如下:

元器件在各阶段的更换数量更新方程如下:

其中,F(t)为元器件寿命的累积失效分布函数,

fc(x)为元器件的失效概率密度函数,

M(t)的值表示在[0,t)时间内预计的元器件更新数;

在经历过tc时间筛选后,t时间内预计的元器件更新数NC(ttc)为:

NC(t|tc)=Pcss(tc)·Mcss(t|tc)+Pcg(tc)·Mcg(t|tc) (15)

其中,Mcss(t|tc)和Mcg(t|tc)分别为按照式(14)、(16)、(17)得出的元器件次品和合格品经过一段时间后的预计更新数:

Mcss(t|tc)=Mcss(t)-Mcss(tc) (16)

Mcg(t|tc)=Mcg(t)-Mcg(tc) (17)。

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