[发明专利]基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统及定位测量方法有效

专利信息
申请号: 201810371119.8 申请日: 2018-04-24
公开(公告)号: CN108828347B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 刘鹏 申请(专利权)人: 青岛中电绿网新能源有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01B7/004
代理公司: 青岛致嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 37236 代理人: 单虎
地址: 266100 山东省青岛市*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 基于 变换 算法 电子电路 emi 敏感区域 定位 测量 系统 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统,其特征在于:包括

二维扫描平台、端口探测仪、数据处理工作站,所述二维扫描平台用于将与端口探测仪相连的探测天线移动到扫描平面的目标点位并精确记录探测天线的实时坐标;所述端口探测仪用于测量探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间的相对电场复振幅;所述数据处理工作站用于向二维扫描平台下发目标点位指令,接收记录探测天线实时坐标,向端口探测仪下发读取探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间相对电场复振幅的指令并读取相关数据,最后基于近-远场变换算法将扫描平面内扫到的所采样点的位置坐标和该点上的电场参数进行综合运算,最终推导出与扫描平面平行的,被测电子系统所在的待测平面内的电磁场分布,

所述基于近-远场变换算法算式如下所示:

在上式(1)中,k表示平面电磁波的传播矢量,kx、ky、kz分别表示传播矢量在空间中x、y、z方向上的分量,在上式(2)中,Es(x,y,z0)是扫描平面电场的谱密度函数,z0是扫描平面与源平面之间的垂直距离,是z0的算子。

2.根据权利要求1所述的基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统,其特征在于:所述二维扫描平台包括由X轴自动滑轨、Y轴自动滑轨、X轴步进电机、Y轴步进电机、X轴位置编码器、Y轴位置编码器、探测天线安装滑块组成的扫描骨架以及坐标-位移控制器,所述X轴步进电机设置在X轴自动滑轨上,所述Y轴步进电机设置在Y轴自动滑轨上,所述X轴位置编码器设置在X轴步进电机的电机轴上,所述Y轴位置编码器设置在Y轴步进电机的电机轴上,所述探测天线安装滑块设置在X轴自动滑轨上,所述坐标-位移控制器控制X轴步进电机、Y轴步进电机实现驱动探测天线安装滑块可以在X轴自动滑轨和Y轴自动滑轨所组成扫描平面上沿X轴和Y轴运动,并且坐标-位移控制器的微控制器分别对X轴位置编码器、Y轴位置编码器的圈数脉冲进行计数,并接收X轴步进电机驱动器和Y轴步进电机驱动器的位置反馈,计算出探测天线安装滑块的实时坐标,也就是探测天线的实时坐标。

3.根据权利要求2所述的基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统,其特征在于:所述坐标-位移控制器接收数据处理工作站发送的目标点位指令。

4.根据权利要求2所述的基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统,其特征在于:所述坐标-位移控制器向数据处理工作站发送探测天线的实时坐标。

5.一种采用如权利要求1所述的基于近-远场变换算法的电子电路EMI敏感区域定位测量系统进行定位测量方法,其特征在于,所述方法为:被测电子系统放置在二维扫描平台的正下方,数据处理工作站向二维扫描平台下发目标点位指令,二维扫描平台将端口探测仪的探测天线移动到扫描平面的目标点位,精确记录探测天线的实时坐标并把探测天线的实时坐标发送给数据处理工作站,数据处理工作站向端口探测仪下发读取探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间相对复振幅的指令,端口探测仪测量探测天线所在点位处探测天线和参考天线之间的相对电场复振幅并将测量的所述相对电场复振幅发送给数据处理工作站,数据处理工作站基于近-远场变换算法将扫描平面内扫到的所采样点的位置坐标和该点上的电场参数进行综合运算,最终推导出与扫描平面平行的,被测电子系统所在的待测平面内的电磁场分布。

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