[发明专利]痕量元素及其同位素自动检测系统

权利要求书

1.一种痕量元素及其同位素自动检测系统，其特征在于，包括样品预处理装置、激光诱导击穿光谱装置(1)、红外光谱仪(2)和PC机(5)，所述样品预处理装置、激光诱导击穿光谱装置(1)、红外光谱仪(2)之间依次设在在样品传送带(3)上，所述激光诱导击穿光谱装置(1)和红外光谱仪(2)均与PC机(5)数据连接，所述激光诱导击穿光谱装置(1)和红外光谱仪(2)之间设置有氧化装置(4)；所述样品预处理装置包括研磨机(9)、烘干机(8)和压饼机(7)且依次设置在样品传送带(3)上；所述红外光谱仪(2)为傅里叶变换红外光谱仪。

2.根据权利要求1所述的痕量元素及其同位素自动检测系统，其特征在于，所述研磨机(9)出口设置有样品盛放装置。

3.根据权利要求1所述的痕量元素及其同位素自动检测系统，其特征在于，所述氧化装置包括氧化室，所述氧化室内设置有加热电管(10)，氧气喷嘴(13)和抽气装置(11)。

4.采用如权利要求1所述的痕量元素及其同位素自动检测系统的检测痕量元素的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)待测样品经过样品预处理装置进行提取处理，最终压饼成型；

(2)压饼成型的待测样品由样品输送带输送至激光诱导击穿光谱装置，获得痕量元素的原子发射谱并传送至PC机；

(3)样品输送带将经过步骤(2)处理的样品输送至氧化装置，样品被氧化后输送至红外光谱仪进行分析，得到痕量元素同位素的质谱数据并传送至PC机；

(4)PC机根据痕量元素的原子发射谱和其同位素的质谱数据分析得出待测样品中的痕量元素的种类和含量及同位素结构信息。