[发明专利]一种亚像素边缘角度的测量方法、系统、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201810359329.5 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN108876842A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 陈国栋;张仁政;王正;丁梓豪;苏凡;王振华;孙立宁 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G06T7/60 分类号: G06T7/60;G06T7/11;G06T7/136;G01B11/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 215104 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测量 亚像素边缘 待测区域 测量模型 待测零件 一致性算法 标准零件 存储介质 目标图像 区域对齐 随机抽样 原始图像 拟合 采集 测量效率 分布参数 边缘点 计算量 鲁棒性 申请
【权利要求书】:

1.一种亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,包括:

采集标准零件的原始图像,建立测量模型并添加所述原始图像中标准零件边缘的测量区域的分布参数;

采集待测零件的目标图像,获取所述目标图像中待测零件边缘的待测区域;

将所述待测区域与所述测量区域对齐,提取出所述待测区域的边缘点;

利用随机抽样一致性算法对所述待测区域进行边缘拟合,得出所述待测零件的亚像素边缘角度。

2.根据权利要求1所述的亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,采集标准零件的原始图像,建立测量模型并添加所述原始图像中标准零件边缘的测量区域的分布参数,具体包括:

通过工业相机采集标准零件的原始图像;

建立测量模型,并将两个相交的测量线对象添加至所述测量模型;

根据两个所述测量线对象,确定所述原始图像中标准零件边缘的测量区域;

对所述原始图像进行灰度化和中值滤波处理,得到原始灰度图像;

在所述原始灰度图像中通过阈值分割处理,获取所述测量区域的分布参数并添加至所述测量模型。

3.根据权利要求2所述的亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,根据两个所述测量线对象,确定所述原始图像中标准零件边缘的测量区域,具体包括:

设置预先划定范围的测量矩形,所述测量矩形的中心为两个所述测量线对象的交点;

通过拉伸或收缩两个所述测量线对象,调整所述测量矩形的范围,以确定所述原始图像中标准零件边缘的测量区域。

4.根据权利要求3所述的亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,采集待测零件的目标图像,获取所述目标图像中待测零件边缘的待测区域,具体包括:

通过工业相机采集待测零件的目标图像;

对所述目标图像进行灰度化和中值滤波处理,得到待测灰度图像;

在所述待测灰度图像中通过阈值分割处理,获取所述目标图像中待测零件边缘的待测区域。

5.根据权利要求4所述的亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,所述待测区域在所述测量矩形的预先划定范围内。

6.根据权利要求5所述的亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,将所述待测区域与所述测量区域对齐,提取出所述待测区域的边缘点,具体包括:

将所述测量区域的一个顶点作为参考点;

根据所述参考点,将所述待测区域与所述测量区域进行形状或仿射变换对齐,确定所述待测区域的边缘位置,提取出所述待测区域的边缘点。

7.根据权利要求6所述的亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,利用随机抽样一致性算法对所述待测区域进行边缘拟合,得出所述待测零件的亚像素边缘角度,具体包括:

利用随机抽样一致性算法对所述待测区域进行边缘拟合,获取所述待测零件的亚像素边缘轮廓;

找出分布在所述亚像素边缘轮廓的两条相交直线,得出所述待测零件的亚像素边缘角度。

8.一种亚像素边缘角度的测量系统,其特征在于,包括:

模型建立模块,用于采集标准零件的原始图像,建立测量模型并添加所述原始图像中标准零件边缘的测量区域的分布参数;

区域获取模块,用于采集待测零件的目标图像,获取所述目标图像中待测零件边缘的待测区域;

区域对齐模块,用于将所述待测区域与所述测量区域对齐,提取出所述待测区域的边缘点;

边缘拟合模块,用于利用随机抽样一致性算法对所述待测区域进行边缘拟合,得出所述待测零件的亚像素边缘角度。

9.一种虚拟桌面显示设备,其特征在于,包括处理器和存储器;其中,所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的亚像素边缘角度的测量方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于存储计算机程序;所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的亚像素边缘角度的测量方法。

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