[发明专利]自动测试绘图程序的方法、装置以及系统有效

专利信息
申请号: 201810355785.2 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108536605B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 江涛;梁冠健 申请(专利权)人: 广州慧通编程教育科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06K9/62
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普
地址: 510000 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 自动 测试 绘图 程序 方法 装置 以及 系统
【权利要求书】:

1.一种自动测试绘图程序的方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取待测试程序以及所述待测试程序对应的标准程序;

根据所述标准程序中的命令在图形容器的第一图层上绘制标准图形;

根据所述待测试程序中的命令在所述图形容器的第二图层上绘制待测试图形;

测评所述标准图形与所述待测试图形的图形相似度,并根据所述图形相似度对所述待测试程序进行最终判别;

所述测评所述标准图形与所述待测试图形的图形相似度,并根据所述图形相似度对所述待测试程序进行最终判别的步骤之前,还包括步骤:

根据所述标准图形的图形尺寸,沿第一预设几何图形的边长方向在所述第一图层中切割出包含所述标准图形的第一几何区域;

根据所述待测试图形的图形尺寸,沿第二预设几何图形的边长方向在所述第二图层中切割出包含所述待测试图形的第二几何区域;

所述测评所述标准图形与所述待测试图形的图形相似度的步骤包括:

在所述标准图形的像素点总个数与所述待测试图形的像素点总个数的差值在预设范围内时,获取所述第二几何区域中与所述标准图形的像素点坐标相同的各第一待匹配像素点;

在所述第一待匹配像素点与对应的所述标准图形的像素点的颜色不同时,获取以所述第一待匹配像素点为中心、第一预设半径形成的区域圆;

选取出圆内任一像素点与对应的所述标准图形的像素点的颜色相同的各所述区域圆;

记录对应所述选取出的区域圆的所述第一待匹配像素点的第一总数,并根据记录的所述第一总数得到所述图形相似度;

和/或在所述标准图形的像素点总个数与所述待测试图形的像素点总个数的差值在预设范围内时,获取所述第一几何区域中与所述待测试图形的像素点坐标相同的各第二待匹配像素点;

在所述第二待匹配像素点与对应的所述待测试图形的像素点的颜色不同时,获取以所述第二待匹配像素点为中心、第二预设半径形成的区域圆;

选取出圆内任一像素点与对应的所述待测试图形的像素点颜色相同的各所述待测试图形的像素点;

记录所述选取出的各待测试图形的像素点的第二总数,并根据记录的所述第二总数得到所述图形相似度;

所述测评所述标准图形与所述待测试图形的图形相似度,并根据所述图形相似度对所述待测试程序进行最终判别的步骤包括:

在所述图形相似度处于预设相似度范围内时,确定所述标准图形与所述待测试图形相似,并通过对所述待测试程序的判别。

2.根据权利要求1所述的自动测试绘图程序的方法,其特征在于,所述图形容器为在HTLM5创建的canvas画布。

3.根据权利要求1所述的自动测试绘图程序的方法,其特征在于,获取待测试程序以及所述待测试程序对应的标准程序的步骤包括:

根据所述待测试程序,获取所述待测试程序对应的测试数据,从所述测试数据中提取所述标准程序;所述测试数据包括测评时限、题目分值以及题目信息。

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