[发明专利]存储系统及其操作方法有效
申请号: | 201810353900.2 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN109390019B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 金南勋;魏秀珍;俞登觉 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34;G11C16/26;G11C16/24 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;刘久亮 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储系统 及其 操作方法 | ||
1.一种存储系统,该存储系统包括:
半导体存储装置,所述半导体存储装置被配置为通过响应于操作命令而执行内部操作来输出就绪/繁忙R/B信号,并且通过响应于状态检查命令而执行状态检查操作来输出状态数据,所述状态数据作为检查所述半导体存储装置中包括的存储块是正常执行一般操作的正常存储块还是坏块的所述状态检查操作的结果而生成,所述R/B信号指示所述半导体存储装置是处于就绪状态还是繁忙状态;以及
控制器,所述控制器被配置为向所述半导体存储装置输出所述操作命令和所述状态检查命令,根据从所述半导体存储装置接收到的所述R/B信号检查所述半导体存储装置的一般操作是否完成,并且根据检查结果确定从所述半导体存储装置接收到的所述状态数据的有效性。
2.根据权利要求1所述的存储系统,其中,所述半导体存储装置包括:
R/B信号发生电路,所述R/B信号发生电路被配置为根据所述内部操作输出所述R/B信号;以及
状态检查电路,所述状态检查电路被配置为将所述状态检查操作的所述结果作为所述状态数据输出。
3.根据权利要求2所述的存储系统,其中,所述控制器包括:
存储器单元,所述存储器单元被配置为存储所述R/B信号的切换信息,并且将在所述状态检查操作中存储的所述切换信息作为R/B检查信号输出;以及
处理器,所述处理器被配置为基于所述R/B检查信号确定所述状态数据的有效性。
4.根据权利要求3所述的存储系统,其中,所述R/B信号发生电路在所述半导体存储装置执行所述内部操作时输出具有第一电平的R/B信号,并且
其中,如果所述内部操作完成,则所述R/B信号发生电路将所述R/B信号的信号电平从所述第一电平切换到第二电平,并且输出具有所述第二电平的R/B信号。
5.根据权利要求4所述的存储系统,其中,所述存储器单元在所述R/B信号的信号电平从所述第一电平切换到所述第二电平时存储切换信息,并且将所存储的切换信息作为具有第一信号电平的R/B检查信号输出。
6.根据权利要求5所述的存储系统,其中,所述处理器基于具有所述第一信号电平的所述R/B检查信号确定所述状态数据有效。
7.根据权利要求4所述的存储系统,其中,所述存储器单元在所述R/B信号的信号电平没有从所述第一电平切换到所述第二电平时输出具有第二信号电平的R/B检查信号。
8.根据权利要求7所述的存储系统,其中,所述处理器响应于具有所述第二信号电平的所述R/B检查信号而确定所述状态数据无效。
9.一种存储系统,该存储系统包括:
半导体存储装置,所述半导体存储装置被配置为通过执行状态检查操作来输出状态数据,所述状态数据作为检查所述半导体存储装置中包括的存储块是正常执行一般操作的正常存储块还是坏存储块的所述状态检查操作的结果而生成;
存储器单元,所述存储器单元被配置为响应于所述半导体存储装置的就绪/繁忙R/B信号而输出R/B检查信号,所述R/B信号指示所述半导体存储装置是处于就绪状态还是繁忙状态;以及
处理器,所述处理器被配置为基于所述R/B检查信号来确定所述状态数据是否有效。
10.根据权利要求9所述的存储系统,其中,所述处理器向所述半导体存储装置输出操作命令和状态检查命令。
11.根据权利要求10所述的存储系统,其中,所述半导体存储装置响应于所述操作命令而执行内部操作,响应于所述状态检查命令而执行所述状态检查操作,并且根据所述内部操作输出所述R/B信号。
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