[发明专利]一种柔性外延铁电栅薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810352752.2 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108550627A 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 钟向丽;任传来;谭丛兵;王金斌;李波;郭红霞;宋宏甲;廖敏 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336;H01L21/02
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 李冉
地址: 411100 湖南省湘*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 外延铁电 薄膜晶体管 底栅电极 沟道层 钙钛矿氧化物 电学性能 薄膜层 缓冲层 源电极 衬底 弯折 制备 退火 云母 金属导电性 耐高温性能 机械弯曲 外延薄膜 栅介质层 制备工艺 制造周期 漏电极 晶体管 读写 铁电 制程 薄膜
【权利要求书】:

1.一种柔性外延铁电栅薄膜晶体管,其特征在于,包括:云母柔性衬底;在所述衬底上形成的缓冲层;在所述缓冲层上形成的底栅电极;在所述底栅电极上形成的外延铁电薄膜层;在所述外延铁电薄膜层上形成的沟道层;在所述沟道层上形成的源电极;以及在所述沟道层上且同所述源电极分离形成的漏电极。

2.根据权利要求1所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管,其特征在于,所述外延铁电薄膜层为Pb(Zr0.1Ti0.9)O3、Pb(Zr0.2Ti0.8)O3、Pb(Zr0.3Ti0.7)O3和Pb(Zr0.52Ti0.48)O3四种外延薄膜的至少一种。

3.根据权利要求1所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管,其特征在于,所述底栅电极为SrRuO3外延薄膜,所述沟道层为ZnO外延薄膜。

4.根据权利要求1所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管,其特征在于,所述底栅电极的厚度为15~40nm;

所述外延铁电薄膜层的厚度为120~180nm;

所述沟道层的厚度为40~70nm。

5.一种如权利要求1~4任一项所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)选择光滑无裂纹的天然云母片,然后用双面胶将其贴在操作台上,用尖头镊子逐层剥离云母,直到云母片的厚度小于30μm;

(2)在步骤(1)中的云母衬底上淀积CoFe2O4薄膜得到缓冲层;

(3)在步骤(2)中的缓冲层上进行外延生长SrRuO3薄膜,得到底栅电极;

(4)在步骤(3)中的底栅电极进行外延生长锆钛酸铅材料薄膜,得到铁电薄膜层;

(5)在步骤(4)中的外延铁电薄膜层上进行行外延生长ZnO薄膜,得到沟道层;

(6)在步骤(5)中的沟道层上淀积栅金属,形成源电极和漏电极,并进行退火处理。

6.根据权利要求5所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中脉冲激光沉积的参数如下:反应室抽真空至≤1×10-6Pa;沉积温度500~600℃;沉积氧压为30~50mtorr;激光能量300~350mJ;激光脉冲频率为10Hz;沉积速率1~5nm/min。

7.根据权利要求5所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中脉冲激光沉积的参数如下:反应室抽真空至≤1×10-6Pa;沉积温度550~620℃;沉积氧压为50~80mtorr;激光能量300~350mJ;激光脉冲频率为10Hz;沉积速率1~5nm/min。

8.根据权利要求5所述的柔性外延铁电栅薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述步骤(4)中脉冲激光沉积的参数如下:反应室抽真空至≤1×10-6Pa;沉积温度500~600℃;沉积氧压为100mtorr~200mtorr;激光能量300mJ~350mJ;激光脉冲频率为10Hz;沉积速率1~5nm/min。

9.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(5)中脉冲激光沉积的参数如下:反应室抽真空至≤1×10-6Pa;沉积温度300~400℃;沉积氧压为1~10mtorr;激光能量300~350mJ;激光脉冲频率为10Hz;沉积速率1~5nm/min。

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