[发明专利]一种光学特性测量系统及其应用方法

说明书

本发明涉及一种光学特性测量系统及其应用方法，该系统包括：测量目标、探测器和控制器；其中，测量目标和探测器位于同一水平面内；控制器，用于接收测量指令，根据测量指令中携带的目标入射角和目标探测角，确定测量目标的目标运动姿态和探测器的目标位置信息；根据目标运动姿态，控制测量目标调整运动姿态；根据目标位置信息，控制探测器进行移动；测量目标，用于在控制器的控制下调整自身的运动姿态；探测器，用于在控制器的控制下移动至与目标位置信息对应的目标位置，并在目标位置上对调整运动姿态后的测量目标进行测量。本方案能降低探测器高度的调整范围，减小了光学特性测量系统所占空间，减少了光学特性测量系统的建设经费。

技术领域

本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种光学特性测量系统及其应用方法。

背景技术

在目标光学特性测量系统中，为了实现不同的光照方向和观测方向的光学特征测量，一般需要改变探测器或测量目标的位置或探测器在探测方向上的俯仰角。

目前，一般通过光源和测量目标不动，而改变探测器的位置或在探测方向上的俯仰角的方式来实现不同观测方向的光学特征测量。在目标光学特性测量系统中，光源一般设置在水平面内，探测器设置在该水平面之上，因此改变探测器在探测方向上的俯仰角一般采用改变探测器高度的方式来实现。这种方式的弊端是：若探测器距离探测目标较远时，对探测器的高度范围需求很高。例如，探测器所处测试轨道半径超过10m时，采用调整探测器高度的方式来调整探测方向上的俯仰角，若探测角度为45°时，探测器的升降范围将超过20m。

因此，针对以上不足，需要提供一种能降低探测器高度调整范围的方案。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中的缺陷，提供一种能降低探测器高度调整范围的方案。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种光学特性测量系统，包括：测量目标、探测器和控制器；其中，

所述测量目标和所述探测器位于同一水平面内；

所述控制器，用于接收测量指令，根据所述测量指令中携带的目标入射角和目标探测角，确定所述测量目标的目标运动姿态和所述探测器的目标位置信息；根据所述目标运动姿态，控制所述测量目标调整运动姿态；根据所述目标位置信息，控制所述探测器进行移动；

所述测量目标，用于在所述控制器的控制下调整自身的运动姿态；

所述探测器，用于在所述控制器的控制下移动至与所述目标位置信息对应的目标位置，并在所述目标位置上对调整运动姿态后的所述测量目标进行测量。

可选地，

进一步包括：光源；其中，

所述光源、所述测量目标和所述探测器位于同一水平面内；

所述光源，用于向所述测量目标发射入射线；

所述探测器，用于向所述测量目标发射检测线，根据所述测量目标反射的探测线对所述测量目标进行测量；

所述测量目标，进一步用于根据所述检测线向所述探测器反射所述探测线；

所述控制器，用于根据所述目标入射角和所述入射线，确定入射方位角和入射俯仰角；根据所述探测线和所述目标探测角，确定探测方位角和探测俯仰角；根据所述入射方位角、入射俯仰角、探测方位角和探测俯仰角，确定所述目标运动姿态和所述目标位置信息。

可选地，

所述控制器包括：坐标系构建模块、入射向量确定模块和探测向量确定模块；其中，

所述坐标系构建模块，用于构建目标体坐标系；